Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Lorentz TEM and LM-STEM DPC Analysis of Magnetic Domains in Soft Ferromagnets

Czaja Paweł

Archives of Metallurgy and Materials

|

2023

|

Vol. 68, iss. 3

1121--1126

EN

Magnetic microstructure in the as suction cast Fe69B20Nb2Hf2Si2Y5 alloy was revealed by combined Lorentz-TEM and LM-STEM DPC analysis. The thin foil of the alloy was found to be composed primarily of the amorphous phase with few dendritic structures. Magnetic domains were found large in the µm range with an average domain wall width of 52 nm. The magnetic domain boundaries are easily mobile, what was confirmed by in situ applied magnetic field. The LM-STEM DPC complements the Lorentz-TEM analysis by providing details on the intensity and spatial distribution of the magnetization vector within the domains.

2

Application of the Autocorrelation Function and Fractal Geometry Methods for Analysis of MFM Images

Bramowicz M., Kulesza S., Czaja P., Maziarz W.

Archives of Metallurgy and Materials

|

2014

|

Vol. 59, iss. 2

451--457

EN

Presented work is focused on the use of correlation methods for numerical analysis of magnetic stray field over the surface of materials. Obtained results extend our previous findings about application of the autocorrelation function and the fractal analysis for characterization of magnetic surfaces. Several domain images are recorded at various tip-sample gaps (i.e. the lift heights), and then their average widths were extrapolated down to the zero distance in order to estimate the width seen right on the surface. Apart from that, fractal parameters were derived from autocorrelation function, which turned out to be sensitive to the lift height, and might constitute universal measure (the critical lift height), above which the MFM signal became dominated by thermal noises and non-magnetic residual interactions.

PL

Niniejsza praca dotyczy zastosowania metod korelacyjnych do numerycznej analizy obrazów rozkładu pola magnetycznego emitowanego z obszarów spontanicznego namagnesowania. W pracy przedstawiono kontynuację badań nad zastosowaniem funkcji autokorelacji oraz metod analizy fraktalnej w badaniach struktury domenowej oraz charakterystyki emitowanego z nich pola magnetycznego. Wyniki badań wykazują zależność mierzonej metodami mikroskopii sił magnetycznych (MFM) szerokości domen od wysokości skanowania nad badaną powierzchnią, sugerując przeprowadzanie serii pomiarów na różnych wysokościach (h), ich aproksymację z następną ekstrapolacją do powierzchni (h=0). Przeprowadzona analiza fraktalna, wskazuje na możliwość jej aplikacji do charakterystyki zmian sygnału magnetycznego rejestrowanego przez MFM. Pozwala ona również na wyznaczenie wysokości krytycznej (hkr), na której sygnałem dominującym stają się nakładające się na sygnał magnetyczny pozostałości niemagnetycznych interakcji między igłą sondy i badaną powierzchnią, stanowiące rejestrowany przez MFM szum.

3

Nanoskopowa analiza orientacji domen magnetycznych z wykorzystaniem technik bliskiego pola

Ozimek M., Sikora A., Goworska-Koniarek D., Wilczyński W.

Przegląd Elektrotechniczny

|

2010

|

R. 86, nr 4

72-74

PL

Cienkie warstwy NiFe otrzymano na szkle kwarcowym za pomocą impulsowego rozpylania magnetronowego. Proces nakładania prowadzono przy stałej mocy (550 W) i różnym ciśnieniu gazu roboczego (0,4, 1,0, 4,0 Pa). Zbadano strukturę domenową otrzymanych warstw za pomocą mikroskopii sił magnetycznych (MFM). Grubość powłok zawierała się w przedziale od 80 do 150 nm.

EN

NiFe thin films deposited onto Si substrate at room temperature via impulse magnetron sputtering. Magnetron deposition was carried out in sputtering power 550 W and different argon pressure (0.4, 1.0, 4.0 Pa). The ferromagnetic layers thicknesses were 80, 150 and 120 nm respectively. The samples were characterized by X-Ray diffraction. Effect of sputtering parameters on domain structure, as explored by magnetic force microscopy (MFM), was focused. The investigation showed a variety of magnetic domain microstructures

4

Image processing study of ultrathin cobalt domain structure evolution induced by overlayer structure

Dobrogowski W., Kurant Z., Nedzved A., Stefanowicz W., Tekielak M., Baczewski L. T., Wawro A., Maziewski A.

Materials Science Poland

|

2007

|

Vol. 25, No. 2

403--410

EN

Evolution of the domain structure (DS) in ultrathin cobalt films, deposited on sapphire substrate with the following structure: X\Au\Co(dCo nm thick layer or wedge)\X (dX nm thick layer or wedge perpendicular to Co wedge axis)\Au (where X is V or Mo) with perpendicular magnetization was investigated as a function of thickness dX. The study was performed using an optical polarizing microscope with CCD camera. Images of DS were recorded during various stages of magnetization reversal. A special software based on LabViewŽ was employed for acquisition and processing of domain images. To analyze the observed domain structures, topology properties of magnetic images were determined. Preferential orientation of domain walls was found in ultrathin Co covered by Mo but not by V.

5

Dendritic domain structures in ultrathin cobalt films

Stefanowicz W., Tekielak M., Bucha V., Maziewski A., Zablotskii V., Baczewski L.T., Wawro A.

Materials Science Poland

|

2006

|

Vol. 24, No. 3

783--788

EN

We report on study of dendritic domain structures (DDS) in gold enveloped cobalt ultrathin films of thicknesses slightly below the thickness at which the reorientation from perpendicular magnetization state to in-plane state takes place. In these films magnetization reversal undergoes through the dendritic growth of domains. The magnetic aftereffect was observed. We reveal the mechanism and key parameters controlling the dendritic growth of magnetic domains.