Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

2 Bartosiński B.

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: magistrale testujące

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Współczesne trendy w diagnostyce układów elektronicznych z wykorzystaniem magistral testujących

Bartosiński B.

Przegląd Elektrotechniczny

2010

R. 86, nr 9

1-4

Przedstawiono magistrale testujące przeznaczone do diagnostyki cyfrowych i analogowych układów elektronicznych: IEEE 1149.1 dla układów cyfrowych, IEEE 1149.4 dla układów mieszanych sygnałowo oraz magistralę IEEE 1149.6 dla złożonych układów cyfrowych sprzężonych pojemnościowo. Zaprezentowano wyniki badań nad wykorzystaniem wyposażonych w magistralę IEEE 1149.4 układów SCANSTA400 do testowania i identyfikacji uszkodzeń w układach elektronicznych. Badaniami objęto metody pomiaru rezystancji oraz metody pomiaru pojemności i indukcyjności o małym współczynniku stratności. Wykonane badania potwierdziły użyteczność układów SCANSTA400 wyposażonych w magistralę IEEE 1149.4 do wykrywania błędów produkcyjnych, bez konieczności użycia złożonych głowic ostrzowych. Zaprezentowano opracowany w ostatnich miesiącach standard magistrali dwuprzewodowej IEEE 1149.7 a także propozycje standardu IEEE P1581, IEEE 1149.8.1 oraz przedstawiono perspektywy i kierunki dalszego rozwoju magistral testujących.

A review is presented of testing buses designed for the diagnostics of digital and analog electronic circuits: the IEEE 1149.1 bus for digital circuits, the IEEE 1149.4 bus for mixed-signal circuits and the IEEE 1149.6 bus for AC coupled complex digital circuits. Diagnostics carried out with the use of the above-mentioned buses is possible at the integrated circuit, packet or system level. Results of tests on the use of SCANSTA400 devices equipped with the IEEE 1149.4 test bus for testing and fault identification in electronic circuits are also presented. The tests included two methods of resistance measurement and two methods of low-dissipation factor coefficient capacitance and inductance measurement with the use of the IEEE 1149.4 bus. For multielement RLC structures, a method is presented of element identification through the bus, using Tellegen’s Theorem. The tests which were carried out confirmed the usefulness of SCANSTA400 devices equipped with the IEEE 1149.4 bus for detection of shorts and opens in connections and for determination of the values of passive elements on electronic circuit boards, without the use of complex bed of nails. The advantages and disadvantages of the test buses are discussed and perspectives and directions of their further development for testing, programming and debugging presented.

Diagnostyka układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali testujących

Bartosiński B.

Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej. Technologie Informacyjne

2008

T. 16

489-494

Przedstawiono przegląd magistral testujących przeznaczonych do diagnostyki układów elektronicznych: magistralę IEEE 1149.1 dla układów cyfrowych, magistralę IEEE 1149.4 dla układów mieszanych sygnałowo oraz magistralę IEEE 1149.6 dla układów cyfrowych sprzężonych pojemnościowo. Pokazano wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.4 do pomiarów interkonektów typu RLC na pakietach układów elektronicznych. Do badań użyto wyposażonych w magistralę układów scalonych SCANSTA400. Pomiary przeprowadzano metodami proponowanymi w normie IEEE 1149.4, oraz nowoopracowanymi metodami zorientowanymi na testowanie magistralowe. Zaprezentowano metodykę pomiarów i uzyskane dokładności. Przedyskutowano zalety i wady poszczególnych magistral oraz perspektywy ich praktycznych zastosowań w zakresie testowania oraz programowania systemów wbudowanych opartych na mikrokontrolerach.

The paper presents a survey of testing busses designed for electronic circuit diagnostics: the IEEE 1149.1 bus for digital circuits, the IEEE 1149.4 bus for mixed-signal circuits and the IEEE 1149.6 bus for AC coupled digital circuits. Results of tests are shown from the application of the IEEE 1149.4 bus in measurements of RLC interconnects in electronic printed circuit boards. The tests we re carried out with the use of integrated circuits SCANST A400 equipped with a bus. Measurements we re performed according to methods proposed in the IEEE 1149.4 standard and newly-developed methods oriented at bus testing. The measurement method and the obtained results are presented. The pros and cons of the testing busses and perspectives of their practical application in testing and programming of embedded systems based on microcontrollers are discussed.