Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Powiadomienia systemowe
  • Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 5

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  luxmeter
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
PL
W pracy przedstawiono zagadnienie wpływu niedopasowania widmowego luksomierza na dokładność pomiarów natężenia oświetlenia. W rozważaniach uwzględniono promieniowanie uzyskiwane przy użyciu współcześnie stosowanych do celów oświetleniowych źródeł światła. Dokładności pomiaru luksomierzem została zdefiniowana przez Międzynarodową Komisję oświetleniową CIE wartością błędu f1. Wielkość tego błędu zależy od jakości widmowego dopasowania głowicy fotometrycznej luksomierza do krzywej czułości widmowej standardowego obserwatora kolorymetrycznego V(λ) określanej przy użyciu błędu niedopasowania f’1, oraz od względnego widmowego rozkładu mocy promienistej mierzonego źródła światła. Wykazano, że w zależności od jakości korekcji widmowej użytego luksomierza, dokładność pomiarów będzie najmniejsza w przypadku mierzenia źródeł LED, niezależnie od wartości ich temperatury barwowej najbliższej.
EN
The paper discusses the effect of the illuminance meter (luxmeter) spectral correction mismatch on the accuracy of contemporary typical light source measurements. Considered are: light bulbs, fluorescent lamps, high-pressure metal halide lamps and LEDs. Those lamps are having different correlation color temperature. The method of determining illuminance meter accuracy when measured source differs from calibration source has been defined by the CIE International Lighting Commission as an error f1. The magnitude of this error depends on the quality of the spectral correction of the luxmeter photometric head to the spectral sensitivity curve of the standard photometric observer V(λ) (this inaccuracy is known as f1’) and the relative spectral power distribution of the radiated emitted by measured light source. Depending on the lamp type, luxmeter correction factors k have been calculated. It has been shown that the accuracy of measurements taken by luxmeter will be the weak when LEDs are measured. In that case the value of k correction factor is varying from 1 up to 0,78. In comparison the value of k correction factor is near 1 when the incandescent lamps are measured.
PL
W artykule przedstawiono różne rozwiązania konstrukcji głowicy fotometrycznej luksomierza. Wykazano istnienie wpływu rodzaju tej konstrukcji, na jakość korekcji uchybu spowodowanego skośnym padaniem światła na jego głowicę pomiarową. Przedstawiono model matematyczny elementu w optymalny sposób korygującego ten uchyb. Zaprezentowana metoda, projektowania głowicy fotometrycznej luksomierza, pozwala uzyskać głowicę skorygowaną w sposób optymalny pod względem przestrzennym oraz widmowym.
EN
The article presents various designs of photometric head of luxmeters. It also showed the influence of designing parameters of luxmenter on quality of its correction. The mathematical model of this correction element is shown also.
3
Content available remote Instrumentation for long term measuring of parameters under night sky
EN
The paper deals with equipment for long-term measurement. We want to collect information about night sky, quantify the obtrusive light and compare the level of it in industrial and habited areas and out of them. For long-term measurements of Iow level illuminance (about 10-3 lx) and luminance (about 10-3 cd/m2) should be applied not only the measuring equipments with high sensitivity, but also completely independent one with the ability to save the measured data.
PL
Artykuł mówi o przyrządach do pomiarów długoterminowych. Chcemy zebrać informacje o nocnym niebie, określić ilościowo zanieczyszczenie świetlne, porównać jego poziom na obszarze przemysłowym i zamieszkałym a także poza nim. Do długoterminowych pomiarów niskich poziomów natężenia oświetlenia (ok. 10-2 lx) i luminacji (ok. 10-3 cd/m2) koniecznym jest użycie urządzeń nie tylko o wysokiej czułości, ale także z całkowicie niezależną możliwością zapisu namierzonych danych.
PL
W pracy przedstawiono metodykę wyliczenia gęstości oświetlenia powierzchni w szklarni. W oparciu o powszechnie znane zależności oraz typ źródła światła stosując metodę superpozycji obliczono teoretyczne wartości oświetlenia powierzchni. Weryfikację zastosowanej metodyki przeprowadzono w szklarni w której zastosowano wysokoprężne lampy sodowe. Do oceny różnic między wartościami obliczonymi i zmierzonymi zastosowano standardowe mierniki błędów.
EN
The paper presents methodology allowing to compute surface illumination density in a greenhouse. Theoretical surface illumination values were computed using the superposition method, on the basis of generally known dependencies and light source type. Applied methodology was verified in the greenhouse, in which high-pressure sodium discharge lamps were used. Standard error meters were employed to evaluate differences between computed and measured values.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.