Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 2008

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: low-coherent interferometry

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Optyczna interferometria niskokoherentna w diagnostyce powłok ochronnych

Pluciński J., Strąkowski M.

Pomiary Automatyka Kontrola

2008

R. 54, nr 3

157-160

W artykule zaproponowano zastosowanie optycznej interferometrii niskokoherentnej w diagnostyce powłok ochronnych. W badaniach wykorzystano optyczny tomograf koherencyjny wykorzystujący interferometr w konfiguracji Michelsona. W układzie pomiarowym użyto podczerwone źródło promieniowania o krótkiej drodze koherencji, którym był światłowód fotoniczny pobudzany erbowym laserem femtosekundowym. Zastosowano detekcję zrównoważoną niewrażliwą na zmiany polaryzacji przez badany obiekt. Przedstawione wyniki pomiarów pokazały, że można tą techniką diagnozować powłoki ochronne bazujące na farbie zawierającej silnie rozpraszające lub absorbujące pigmenty.

In this paper, the use of optical low-coherent interferometry for diagnosis of protective layer is proposed. We have used an optical coherent tomography (OCT) system which was based on Michelson interferometer. During our research, a super-continuum infrared light source based on photonic crystal fiber stimulated by a femtosecond erbium-doped laser was used. Balanced and polarization-sensitive detection was employed. Obtained measurement results demonstrate the ability of our system to diagnose high scattering or absorbing protective paint layers by the OCT system.