Wykonane we własnym zakresie rezystory grubowarstwowe RuO2+ szkło badano pod kątem zastosowań w termometrii niskotemperaturowej. Zaprezentowane wyniki badań obejmują stabilność rezystancji próbek poddanych cyklicznym zmianom temperatury (zarówno szybkim jak i powolnym) w przedziale 300..77 K oraz w trakcie długotrwałego wygrzewania (1600 h) w temperaturze 170°C. Zmierzono również wskaźnik szumów próbek poddanych szybkim cyklom termicznym.
EN
Laboratory-made RuO2+ glass thick film resistors have been examinated for their application as cryogenic thermometers. Presented results encompass resistance stability during thermal cycling from 300 K to 77 K - fast (thermal shocks) and slow - and longterm (1600 h) annealing at 170°C. For fast thermal cycling current noise index of the resistors was also measured.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.