Opisano projektowanie kształtu specjalizowanego, aperiodycznego pobudzenia. Celem jest zwiększenie skuteczności lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych w analogowych układach elektronicznych. Takie uszkodzenia należą do grupy najtrudniej diagnozowalnych. Dalszą poprawę skuteczności diagnostyki uzyskano po zastosowaniu ekstrakcji cech za pomocą transformaty falkowej. Uzyskane wyniki porównano z diagnostyką przeprowadzoną za pomocą najprostszego pobudzenia aperiodycznego - funkcji skoku oraz z diagnostyką bez ekstrakcji cech.
EN
This article presents design of specialised aperiodic excitation. Purpose is improvement of fault diagnosis of analogue electronic circuits. The goal is enhancement of a single parametric (soft) faults location. Such faults are one of the most difficult to diagnose. Further improvement is achieved after utilising wavelet transform as a feature extractor. Obtained results are compared with fault diagnosis by means of the simplest aperiodic function: step function - and with dianosis without feature extraction.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.