Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 2014

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: light scattering phenomenon

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Dobór modeli matematycznych do analizy parametrów chropowatości powierzchni w skaterometrycznych pomiarach wzorców porównawczych

Kapłonek W., Sutowski P.

Pomiary Automatyka Kontrola

2014

R. 60, nr 10

904--908

W pracy przedstawiono sposób doboru modeli matematycznych przydatnych w analizie wybranych parametrów chropowatości w pomiarach skaterometrycznych. Modele wyznaczano dla powierzchni porównawczych wzorców chropowatości, dla których rejestrowano obrazy światła rozproszonego, za pomocą układu pomiarowego wykorzystującego wielokamerowy system wizyjny CV-3000 firmy Keyence. Szeroki program badań eksperymentalnych pozwolił opracować statystycznie istotne modele, które w postaci programu pomiarowego umożliwiają ocenę parametru Rz (w zakresie od 0,8 do 25 μm) oraz Ra (w zakresie od 0,07 do 3,7 μm).

The light scattering phenomenon is often used in modern optical metrology for the assessment of roughness of the precisely machined surfaces of machine parts, medical devices and measurement instruments. The developed over more than 60 years ideas for use of this phenomenon became the basis of a number of measuring techniques. Some of them use a digital image of the scattered light, which is the carrier of information about the state of the inspected surface. Its analysis as well as proper interpretation can be used to characterization of the surface texture parameters and enable the correlation of image parameters with selected parameters of the surface roughness. The paper presents a method for the selection of mathematical models, which can be useful in the analysis of selected parameters of the surface roughness measured using the scattered light. The models were determined for surfaces of the comparative roughness standards. Additionally for these standards were acquired images of the angular intensity distribution of the scattered light by means of the measuring setup which used a multi-camera universal machine vision system CV-3000 series produced by Keyence. Wide scope of the experimental research program allowed to develop a statistically significant models, which can be applied in the form of measuring program developed in CV-H3N 2.1 software. The program is used for assessment of the Rz and Ra parameters in the range of (respectively) from 0.8 to 25 μm and from 0.07 to 3.7 μm.