Ograniczanie wyników
Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  lateral force calibration
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote A new Method of Calibration of Lateral Force in Atomic Force Microscope (AFM)
EN
This paper deals with a new calibration technique of lateral force in AFM. The methods is based on the application of the defined lateral force on the tip of the cantilever. The deflection of the cantilever is then measured and is used to estimate of the lateral force during scanning process.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.