Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

1 2011

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: laboratory kit

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Zestaw laboratoryjny źródeł zaburzeń EMC

Elert A., Śniadach E., Galla S.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2011

Vol. 52, nr 10

101-103

W artykule podano podstawowe przyczyny powstawania zakłóceń w urządzeniach elektrycznych i elektronicznych oraz metody i sposoby ich analizy. Przedstawiono również koncepcje układów elektronicznych mających być wzorcowymi źródłami zaburzeń stosowanymi podczas ćwiczeń laboratoryjnych. Jako źródła zaburzeń małych i wysokich częstotliwości wybrano układy, które mogą być łatwo sterowane i zmieniane dla wykazania konieczności stosowania rozwiązań minimalizujących powstawanie przebiegów niepożądanych. Wybrane układy pozwalają na zobrazowanie zaburzeń zarówno w zakresie m.cz. jak i w.cz. oraz na łatwe wprowadzanie różnych elementów przeciwzakłóceniowych do ich konstrukcji. Dają one również możliwość przeprowadzenia analizy działania rozpatrywanego układu w programach symulacyjnych.

In the paper the basic information about sources of interference in electrical and electronic equipment and methods for their analysis are presented. Author presents concepts of electronic systems designed to be reference sources of disturbances to be used during the laboratory exercises. As a source of disturbance for Iow and high-frequency range easily controlled and modified devices should be selected. This devices allow the imaging of Iow and high frequency disturbances and allow the easy implementation of different methods of suppression of disturbances. This also gives the possibility to analyze device operation using simulation programs.