Opisany w artykule kriostat azotowy służy do pomiaru charakterystyk temperaturowych parametrów elektrycznych i optycznych elementów półprzewodnikowych w zakresie temperatury od 77 K do temperatury otoczenia.
EN
The nitrogen cryostat described in the article is used for measuring electrical and optical parameters of semiconductor elements in the temperature ranging from 77 K to the temperature of environment.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.