Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

1 2016

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: koszt testowania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Condition of stopping the burn-in procedure

Bąk K., Badura D.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2016

Vol. 57, nr 4

33--38

In electronic device manufacturing process, burn-in procedures are commonly used. The main purpose of their usage is to uncover failures acquired during the manufacturing process or caused by, generally speaking, the ‘low quality’ of used components. Typically, the burn-in procedure consists of applying working cycles to tested devices, also in extreme environment conditions, e.g. in high temperatures. Tests performed in such way let the failures to be uncovered and generates some testing expenses. Optimizing the expenses by balancing the costs of testing and complaints is commonly practiced. Yet, this method does not guarantee test procedures’ reaction if the quality of components deteriorates, which may reduce the reliability of devices. This article shows the condition of stopping the burn-in procedure, which was designed as complementation of cost optimizing procedures. It works on test repetitions (re-test) when the waste threshold is overtaken. The threshold of re-test is calculated by taking into account such elements as: complaint and test costs, the average production waste and the average complaints rate. The usage of the condition of stopping the burn-in procedure requires refreshing those data periodically. As a result of using the described procedure, the burn-in time and costs are optimized.

W procesach produkcyjnych urządzeń elektronicznych, powszechnie stosuje się procedury sztucznego starzenia. Celem ich stosowania jest pobudzenie uszkodzeń nabytych w procesie produkcji lub powodowanych przez ogólnie pojętą „niską jakością” stosowanych podzespołów. Typowo, procedura sztucznego starzenia polega na zadaniu cykli pracy testowanemu urządzeniu, również w skrajnych warunkach środowiskowych np. w podwyższonej temperaturze. Tak przeprowadzona procedura powoduje pobudzenie uszkodzeń i powstawanie kosztów testowania. Optymalizacja kosztów poprzez zrównoważenie kosztu testowania i reklamacji jest powszechnie stosowną praktyką. Takie postępowanie nie zapewnia reakcji procedury testowej w sytuacji spadku jakości stosowanych podzespołów, które może powodować spadek niezawodności wyrobu. Warunek zatrzymania sztucznego starzenia został zaprojektowany jako uzupełnienie podstawowych metod optymalizacji kosztów. Jego działanie podlega na powtórzeniu sztucznego starzenia w sytuacji gdy poziom odpadu w procesie produkcji przekroczy ustalony próg. Próg ponowienia testu jest ustalany z uwzględnieniem kosztu reklamacji i testowania, średniego odpadu w procesie produkcji oraz średniego poziomu zwrotów reklamacyjnych. Stosowanie warunku wymaga cyklicznej korekty kosztów, odpadu produkcyjnego i poziomu reklamacji. W wyniku podejmowanych działań, następuje optymalizacja czasu trwania sztucznego starzenia oraz kosztów.