Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: korektor aberracji sferycznej

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Najnowsze osiągnięcia transmisyjnej mikroskopii elektronowej

Dłużewski P.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2009

Vol. 50, nr 1

38-41

Transmisyjna mikroskopia elektronowa (TEM) jest techniką powszechnie stosowaną do charakteryzacji ciał stałych w skali atomowej. Ostatnie lata przyniosły szybki postęp w tej dziedzinie badawczej spowodowany głównie gwałtownym rozwojem nanotechnologii. Najnowsze osiągnięcia TEM związane są z opracowaniem korektorów aberracji sferycznej soczewki magnetycznej oraz opanowaniem metod wytwarzania wysoko monochromatycznych wiązek elektronowych. Dzięki temu powstały nowe metody pomiarowe, takie jak wysokorozdzielcza skaningowa transmisyjna mikroskopia elektronowa, mikroskopia z filtracją energii elektorów, spektroskopia strat energii elektronów.

Transmission electron microscopy (TEM) is widely used for solid state species characterization in the atomic scale. Recently, a rapid development of this technique has place mainly due to the progress on the field of nanotechnology. Spherical aberration corrector and illuminating system with monochromator are two technical achievements caused newest in TEM progress. New methods like scanning transmission electron microscopy, energy filtered microscopy or electron energy lost speetroscopy were discovered for nanostruetres characterisation.