Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

3 Przegląd Elektrotechniczny

3 Popowicz A.

Znaleziono wyników: 3

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: korekcja obrazów

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Aproksymacja czasowych zależności ładunku ciemnego w matrycy CCD

Popowicz A.

Przegląd Elektrotechniczny

2013

R. 89, nr 1a

126--128

Celem artykułu jest przedstawienie propozycji aproksymacji zależności prądu ciemnego w matrycach CCD. Jak wcześniej zauważono, gromadzenie ładunku termicznego w pikselu może następować w sposób nieliniowy, wykazując z czasem znaczący spadek tempa generacji. Prezentowana aproksymacja bazuje na fakcie, iż prędkość generacji związana jest z ilością już zgromadzonego ładunku. Metoda została sprawdzona na charakterystykach czasowych prądu ciemnego dla matrycy KAI-11000M firmy Kodak.

In the article a new approximation method for exposure time dependencies of dark current in CCD was presented. As it was reported before, some pixels had nonlinear dark current characteristics with a significant drop of dark charge generation. The novel approximation is based on the fact that the dark current generation ratio depends on the amount of already collected charge. The method was examined on dark current dependencies of Kodak KAI-11000M CCD sensor.

Metoda korekcji prądu ciemnego w matrycach CCD

Popowicz A.

Przegląd Elektrotechniczny

2011

R. 87, nr 11

318-320

Celem artykułu jest zaprezentowanie nowego podejścia do korekcji prądu ciemnego w matrycach CCD. Szczególne zastosowanie tej metody dotyczy zdjęć o bardzo długich czasach naświetlania, gdzie ładunek generowany termicznie wpływa wyraźnie na jakość otrzymywanych obrazów. W odróżnieniu od dotychczas stosowanej metody odejmowania klatki ciemnej, nowy pomysł opiera się na zależnościach czasowych generacji prądu ciemnego, uwzględnia budowę piksela i procesy zachodzące podczas długotrwałej rejestracji materiału. Nowa idea została porównana z klasycznym podejściem korekcyjnym na rzeczywistych zdjęciach astronomicznych.

A new correction algorithm for dark current generation in CCDs was presented in the article. The suggested application includes long exposure images correction when the thermally generated charge significantly degrades image quality. Unlike the nowadays widely used dark frame subtraction method, the new concept is based on time dependencies of dark current in CCDs, provides for pixel structure and processes during long term image acquisition. Both – the present and the new method – were compared on sample real astronomical images.

Analiza prądu ciemnego w matrycach CCD

Popowicz A.

Przegląd Elektrotechniczny

2011

R. 87, nr 4

260-263

Celem artykułu jest zaprezentowanie analizy czasowych zależności prądu ciemnego w matrycach CCD. Prezentowane wyniki zostały uzyskane na współczesnej profesjonalnej kamerze CCD SBIG STL 11000M. Udowadniają one, iż stosowana dotychczas korekcja zdjęć o wysokich czasach ekspozycji (np. zdjęcia astronomiczne) jest zbyt uproszczona, gdyż nie uwzględnia procesów zachodzących w obrębie piksela, które to mają wpływ na wielkość wygenerowanego ładunku termicznego. W artykule została również przedstawiona teoria generacji prądu ciemnego dla struktury piksela.

Exposure time dependencies of dark current in CCD were presented in the article. The professional modern CCD camera SBIG STL 11000M was examined. Results proved inefficiently of widely used dark frame subtraction method which doesn't provide for processes of dark current generation in pixel cell. Dark current generation theory for single pixel was also presented.