Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

1 2016

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: kontrolowane generowanie testów losowych

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Generowanie wieloprzebiegowych kontrolowanych testów losowych

Mrozek I., Yarmolik V.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2016

Vol. 57, nr 11

99--101

Zauważalną niedoskonałością standardowego podejścia do kontrolowanego generowania testów losowych jest wysoka złożoność obliczeniowa procesu. Dlatego w artykule przedstawiona zostanie technika kontrolowanego generowania testów losowych pozwalająca w sposób znaczny zmniejszyć tę złożoność. Technika ta wykorzystuje ideę testów wieloprzebiegowych i w odróżnieniu od podejścia klasycznego skupia się na generowaniu całych kolejnych testów a nie pojedynczych wzorców testowych.

Available evidences suggest that high computational complexity is one of the main drawback of controlled random tests. Therefore a technique to overcome this problem is proposed in the paper. We introduce the concept of multiple controlled random tests (MCRT) and examine various numerical characteristics in terms of the development of those tests. An important key advantage of these techniques is that, in contrast to standard controlled random tests, they use a general characteristic for the test as a whole instead of separately for each test vector.