Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Pomiary Automatyka Robotyka

1 2023

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: kontrola wieloparametrowego procesu technologicznego

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Zastosowanie metody głównych składowych w kartach kontrolnych procesów wieloparametrowych

Volodarsky Evgeniy T., Kozyr Oleh, Warsza Zygmunt Lech

Pomiary Automatyka Robotyka

2023

R. 27, nr 3

65--71

W artykule opisano metodę głównych składowych PC (ang. Principal Components) służącą do tworzenia kart kontrolnych dla wieloparametrowych procesów wytwórczych o skorelowanych parametrach. Ocenę skuteczności zastosowania tej metody przeprowadzono na symulowanych danych, zbliżonych do wyników pomiarów uzyskanych w sterowaniu rzeczywistym procesem technologicznym. W wyniku modelowania kontroli procesu n-parametrowego otrzymano potwierdzenie skuteczności tej metody. Praca ta kontynuuje cykl publikacji autorów o kartach stosowanych w metodach kontroli jakości produkcji.

The article describes in detail the method of constructing control charts based on principal components. Evaluation of the effectiveness of the application of the method is carried out on simulated data, which are close to the measurement results obtained during the control of a real technological process. The results show that the proposed method is effective for controlling a multi-parameter technological process in the presence of a correlated parameters.