PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  kontrola procesu technologicznego
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available Application of electrical tomography in technological processes
Mazurek Mariusz, Dziadosz Marcin, Kłosowski Grzegorz, Wójcik Dariusz, Król Krzysztof
Przegląd Elektrotechniczny
|
2025
|
R. 101, nr 2
72--75
EN
The article focuses on developing an advanced electrical impedance tomography (EIT) system designed for optimizing and controlling technological processes. The authors present an innovative tomographic system that integrates modern hardware solutions with sophisticated signal processing techniques and machine learning algorithms, specifically multi-branch neural networks.
PL
Artykuł koncentruje się na opracowaniu zaawansowanego systemu tomografii impedancji elektrycznej (EIT) przeznaczonego do optymalizacji i kontroli procesów technologicznych. Autorzy przedstawiają innowacyjny system tomograficzny, który integruje nowoczesne rozwiązania sprzętowe z zaawansowanymi technikami przetwarzania sygnałów oraz algorytmami uczenia maszynowego, w szczególności z wykorzystaniem wielogałęziowych sieci neuronowych.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.