Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Przetwornik prąd-napięcie w komputerowym systemie do pomiaru sygnału fotopletyzmograficznego

Prokop D.

Poznan University of Technology Academic Journals. Electrical Engineering

|

2016

|

No. 88

67--77

PL

Sygnał fotopletyzmograficzny (PPG) zawiera szereg cennych diagnostycznie informacji na temat procesów fizjologicznych człowieka. W artykule przedstawiono układy przetwornika prąd-napięcie, które zastosowano do budowy komputerowego systemu pomiarowego sygnału fotopletyzmograficznego. Dla każdego z układów pokazano jak należy dobrać odpowiednie elementy w zależności od sposobu pozyskiwania przebiegu PPG. W pracy zamieszczono wyniki badań eksperymentalnych dla analizowanych przetworników prąd-napięcie.

EN

Photopletysmographic signal (PPG) contains a lot of important diagnostic information about physiological processes in human body. In the article current-voltage converters, which were applied in a computer-assisted system for measurement of PPG signals are presented. For each of these converters it is shown how to select proper elements depending on a way of the acquisition of PPG signals. Some of the experimental results are presented for the analyzed current-voltage converters.

2

Rozwój mikrosystemów, czujników pomiarowych i systemów pomiarowych w Instytucie Systemów Elektronicznych PW

Jachowicz R.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2009

|

Vol. 50, nr 8

149-152

PL

Rozwój czujników, czujników półprzewodnikowych a następnie mikrosystemów następował nieprzerwanie od lat 70 ubiegłego wieku. Postęp w dziedzinie mikroczujników i mikrosystemów przyczynił się również do znacznego postępu w rozwoju komputerowych systemów pomiarowych, dla których te pierwsze były źródłami informacji on-line. W Instytucie Systemów Elektronicznych (ISE) Politechniki Warszawskiej (PW) rozwój ten następował również, chociaż jego skala i tempo była znacznie mniejsza niż w krajach o wysokim poziomie technologii. Artykuł przedstawia krótką informację nt. ewolucyjnych zmian zakresu prac badawczych w omawianej tematyce w Zakładzie Mikrosystemów i Systemów Pomiarowych ISE PW.

EN

The fast development of sensors, semiconductor sensors and microsystems has been noticed since beginning of 70 of last century. That process had also contribution to very intensive progress in computer based measurement systems because sensors and microsystems were on-line Information sources. These two types of development took place also in the Institute of Electronic Systems, Warsaw University of Technology although with smaller scale and with some time delay than In other countries of high technology. A short review of evolution changes of scientific topics in Microsystems and Measurement Systems Division, ISE PW are discussed in the paper.

3

Komputerowy system akwizycji danych i sterowania, dedykowany tomografii impedacyjnej (rezystancyjnej)

Dorozhovets M., Potyrański P.

Zeszyty Naukowe Politechniki Świętokrzyskiej. Elektryka

|

2005

|

Z. 43

39-44

PL

Artykuł prezentuje pierwszy etap prac mających na celu stworzenie systemu impedancyjnej (rezystancyjnej) tomografii komputerowej - ITK i modelu referencyjnego dla weryfikacji systemów ITK.

EN

Paper presents the first step computer impedance (resistance) tomography (ITK) system and reference model (dedicated for verification ITK systems) creation. The ITK consist of data aquisition system 12 (future 24) electrode object current excitation and interelectrode voltage measurement (using difference method) and reference model based on a network of the discrete resistors.

4

Komputerowe systemy pomiarowe w dydaktyce metrologii

Gawędzki W.

Zeszyty Naukowe Politechniki Rzeszowskiej. Elektrotechnika

|

2005

|

z. 28 [223]

293-300

PL

W artykule omówiono opracowany przez autora program przedmiotu "Komputerowe Systemy Pomiarowe", który może być prowadzony na kierunku Elektrotechnika studiów magisterskich i inżynierskich, jak również na kierunku Informatyka Stosowana. Przedstawiono treści programowe wykładów i laboratorium prowadzonych w cyklu jednosemestralnym. Zarysowano problemy występujące w dydaktyce metrologii komputerowych systemów pomiarowych spowodowane obszernością i różnorodnością zagadnień tej dziedziny wiedzy.

EN

A course "Computer Measuring Systems" developed by the author is discussed in the paper. The course can be taugh within the Electrical engineering syllabus at the first and second stage of M.Sc. studies (master degree) as well as within Applied computer science syllabus. The contens of the course covering one-semester lectures and laboratory exercises are presented. Selected problems concerning teaching computer measuring systems metrology caused by the extensiveness and diversity of this branch of science are outlined.

5

Stanowisko badawcze trójfazowego prostownika mostkowego 6T+2T z wykorzystaniem środowiska LabVIEW

Łatka M., Grad M.

Zeszyty Naukowe Politechniki Rzeszowskiej. Elektrotechnika

|

2004

|

z. 26 [214]

95--106

PL

W artykule przedstawiono stanowisko badawcze trójfazowego tyrystorowego prostownika mostkowego 6T+2T, gdzie zastosowano najnowszej generacji przyrządy pomiarowe, zwane przyrządami wirtualnymi, w skład których wchodzą: komputer klasy PC, karta pomiarowa i odpowiednie oprogramowanie. Opracowanie i wykorzystanie takiego komputerowego systemu pomiarowego opartego o środowisko LabVIEW, z kartą pomiarową firmy National Instruments - PCI-6023E, umożliwiło zarówno pomiar, jak i analizę, archiwizacje, oraz wizualizacją wyników badań eksperymentalnych układu prostownika 6T+2T. W artykule zaprezentowane zostały wybrane wyniki przeprowadzonych badań.

EN

In the article, a laboratory model of a thyristor bridge rectifier 6T+2T eguipped with the latest generation of measurement devices called Virtual Instruments is presented. The model includes a personal computer, data acquisition card and specially designed software. Through creating and applying such a computer-based measurement system, supported by LabVIEW environment and National Instruments measurement card - PCI-6023E, it is possible to carry out not only measurement, but also analysis, archiving and presentation of the 6T+2T rectifier research results. Selected results of the research are presented in this article.

6

Komputerowy system pomiarów, znakowania i sortowania kondensatorów ceramicznych

Kornacki W., Pikiel M., Prusaczyk E.

Prace Przemysłowego Instytutu Elektroniki

|

1998

|

nr 133

12-23

PL

W pracy przedstawiono budowę funkcjonowanie i algorytmy pomiarowe komputerowego systemu do pomiarów, znakowania i sortowania kondensatorów ceramicznych.

7

Komputerowy system do produkcyjnych pomiarów i segregacji kondensatorów przeciwzakłóceniowych

Machalica P., Rogala K., Srokosz R.

Prace Przemysłowego Instytutu Elektroniki

|

1998

|

nr 133

50-65

PL

Ze względu na wymagania wynikające z odpowiednich norm wszystkie wyprodukowane kondensatory przeciwzakłóceniowe muszą być poddane produkcyjnym testom jakościowym i testom bezpieczeństwa. Wysoka elastyczność produkcji oraz wymagana współpraca z systemem zapewnienia jakości stawiają systemowi do produkcyjnych pomiarów i segregacji kondensatorów przeciwzakłóceniowych wysokie wymagania funkcjonalne i niezawodnościowe, przy zachowaniu daleko idących możliwości jego rekonfiguracji i rozbudowy. Wymagania te spełnia hierarchiczny, zdecentralizowany system o strukturze otwartej, opracowany pizez Przemysłowy instytut Elektroniki i wdrożony do produkcji w przedsiębiorstwie MIFLEX.