Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Numerical Methods in Bioelectromagnetics Analysis

Długosz T.

Biuletyn Naukowy Wrocławskiej Wyższej Szkoły Informatyki Stosowanej. Informatyka

|

2016

|

vol. 16

2--8

EN

The paper is devoted to short characteristic of numerical methods using in electromagnetics investigations. Three main methods were presented: Method of Moments, Finite Element Method and Finite Difference Time Domain method. FEM and FDTD were used in computer simulations to show the interaction between the exposure system and tested object.

PL

Artykuł poświęcony jest krótkiej charakterystyce metod numerycznych wykorzystywanych w badaniach bioelektromagnetycznych. Omówiono trzy podstawowe metody: metodę momentów, metodę elementów skończonych i metoda różnic skończonych w dziedzinie czasu. Metody elementów skończonych i różnic skończonych zostały wykorzystane w symulacjach komputerowych na potrzeby wyznaczenia wzajemnego oddziaływania między układem ekspozycyjnym, a badanym obiektem.

2

Wykorzystanie komory TEM do ekspozycji na pole elektromagnetyczne obiektów biologicznych

Sobiech J., Kieliszek J., Puta R., Stankiewicz W.

Przegląd Elektrotechniczny

|

2015

|

R. 91, nr 12

218-220

PL

Komory TEM są wykorzystywane w badaniach biomedycznych do ekspozycji materiału biologicznego na pole elektromagnetyczne. W komorze TEM uzyskuje się quasistacjonarny rozkład pola elektromagnetycznego odpowiadający fali płaskiej. Umieszczenie wewnątrz komory TEM obiektu biologicznego zmienia rozkład pola w jej wnętrzu, co wpływa na SAR. Celem niniejszej pracy jest ocena wpływu zastąpienia ekspozycji w warunkach fali płaskiej ekspozycją w komorze TEM na rozkład SAR w układzie biologicznym.

EN

TEM cells are used in biomedical research to expose a biological material to electromagnetic fields. The TEM cell produces quasi stationary electromagnetic field distribution corresponding to a plane wave. The biological material inside the TEM cell changes the electromagnetic field distribution inside the TEM cell, which affects the SAR. The aim of this study is to evaluate, how SAR changes, when the exposure at the plane wave condition is replaced with the exposure inside the TEM cell.

3

Kompatybilność elektromagnetyczna układów scalonych - metody badań emisji i odporności, propozycje dotyczące modelowania

Kołodziejski J. F.

Zeszyty Naukowe. Elektryka / Politechnika Łódzka

|

2003

|

z. 100

9-18

PL

Prace prowadzone w IEC przez Grupę Roboczą WG9 w ramach Podkomitetu Technicznego SC 47A Układy Scalone, doprowadziły do opublikowania 5 dokumentów normalizacyjnych opisujących metody pomiarowe emisji zaburzeń elektromagnetycznych z układów scalonych. W pracy przedstawiono krótko opracowane dokumenty i zawarte w nich metody pomiarowe. Więcej uwagi poświęcono tworzonym obecnie normom dotyczącym metod pomiaru odporności układów scalonych na zaburzenia elektromagnetyczne promieniowane i przewodzone. W trzeciej części pracy omówiono kwestie dotyczące modelowania układów scalonych, które ma na celu umożliwienie przewidywania i ocenę kompatybilności elektromagnetycznej tych układów, głównie w fazie ich projektowania.

EN

Intensive works conducted inside IEC by the Working Group WG9 of Technical Subcommittee 47A Integrated Circuits, allowed for the elaboration and publication of 5 standard documents (6 regarding the general part) IEC 61967 series, which describe the measurement methods of electromagnetic emissions of integrated circuits. These documents and the covered measurement methods are shortly reviewed in the work. More attention is paid to the currently considered standards embracing the measurement methods of ICs immunity against radiated and conducted electromagnetic disturbances. Among the methods there are following: testing inside TEM and GTEM cells, bulk current injection BCI, direct power injection DPI and testing inside workbench Faraday cage WBFC. Third part of the work is devoted to the problems of modeling of integrated circuits for the purpose of prediction and estimation of electromagnetic compatibility properties of these circuits, mainly at their design phase.