Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Faryna M.

1 2010

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: jakość dyfrakcji

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Dyfrakcja elektronów wstecznie rozproszonych : wpływ struktury materiału oraz parametrów pracy skaningowego mikroskopu elektronowego na jakość obrazów dyfrakcyjnych

Faryna M.

Inżynieria Materiałowa

2010

Vol. 31, nr 5

1312-1323

W pracy omówiono wpływ szeregu parametrów na jakość obrazów dyfrakcyjnych zarejestrowanych w skaningowym mikroskopie elektronowym zarówno z wysoką, jak i niską próżnią. Najważniejsze parametry to m.in.: atomowy czynnik rozpraszania, czynnik strukturalny, stan sieci krystalicznej, parametry pracy mikroskopu oraz stan powierzchni analizowanej próbki. Obliczono przykładowo czynniki strukturalne dla faz regularnych przestrzennie i ściennie centrowanych. Omówiono znaczenie parametru Ima- ge Quality Factor, który opisuje jakość obrazu dyfrakcyjnego. Podano szereg przykładów analizy tego parametru. Autor zwrócił uwagę na znaczenie odkształcenia sprężystego i plastycznego na jakość obrazu dyfrakcyjnego. Omówił również wpływ rożnych gazów oraz ich zmieniającego się ciśnienia w SEM z niską próżnią na obraz dyfrakcji Kikuchiego oraz powiązał te warunki pracy mikroskopu z rozpraszaniem sprężystym i niesprężystym elektronów wstecznie rozproszonych tworzących stożki Kossela.

The paper summarizes the parameters which affect the quality of Kikuchi patterns acquired in scanning electron microscope operating either in high or low vacuum conditions. Among others things, the most important factors are: atomic scattering factor, structure factor, lattice conditions microscope settings and surface conditions. An example of calculating structure factors for high symmetry structures was also presented. Image Quality Factor as the main parameter describing Kikuchi diffraction was determined and examples of the influence of microscope parameters as well as the sample condition and its preparation on this factor were shown. An application of the EBSD to the analysis of local strains (plastic and elastic) in materials was shortly discussed. Finally, the author draws the readers' attention to the influence of various gases and their increasing pressure in Low Vacuum SEM on the quality of acquired diffraction and correlates this relationship with elastic and inelastic scattering of electrons forming Kossel cones.