Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Interferometric Set-Up for Measuring Thermal Deformations of Precision Construction Elements

Dobosz M., Kożuchowski M., Ściuba M., Iwasińska-Kowalska O., Woźniak A.

Metrology and Measurement Systems

|

2017

|

Vol. 24, nr 2

241--254

EN

Many precision devices, especially measuring devices, must maintain their technical parameters in variable ambient conditions, particularly at varying temperatures. Examples of such devices may be super precise balances that must keep stability and accuracy of the readings in varying ambient temperatures. Due to that fact, there is a problem of measuring the impact of temperature changes, mainly on geometrical dimensions of fundamental constructional elements of these devices. In the paper a new system for measuring micro-displacements of chosen points of a constructional element of balance with a resolution of single nanometres and accuracy at a level of fractions of micrometres has been proposed.

2

Analiza metrologiczna wybranych układów fotodetekcyjnych stosowanych w pomiarach przemieszczeń techniką zliczania prążków interferencyjnych

Zamiela G., Dobosz M.

Pomiary Automatyka Kontrola

|

2010

|

R. 56, nr 1

82-83

PL

W artykule przedstawiono analizę porównawczą wybranych wieloelementowych układów odbiorczych pola interferencyjnego o skończonym okresie prążków. Dokonano oceny poszczególnych rozwiązań pod kątem uzyskiwanego stosunku składowej zmiennej do składowej stałej sygnału oraz podatności układu na błędy interpolacji związane z niedopasowaniem okresu pola interferencyjnego do okresu wynikającego z wielosegmentowej struktury detektora. Przeprowadzono analizy teoretyczne oraz weryfikację doświadczalną skuteczności zaproponowanych rozwiązań.

EN

An error of setting and adjustment of an interference angle of a reference and measurement beam during measurements is one of significant sources of measurement errors in interferometric displacement measurements by means of the counting fringe technique. The main reasons for these errors are: imperfections of the interferometer optical components and the reflector angle instability during its movement. They are random errors and cannot be easily compensated. Reduction of these errors is possible by means of a multi element photodetection system with reduced interference angle change susceptibility. That kind of system can be used in the interferometers as well as in the optoelectronics displacement transducers which principle of operation is a periodic field detection by a linear array of the photodetector elements. The comparison analysis of the selected periodic field photodetection systems is presented. The contrast and interpolation errors of particular solutions are evaluated. The theoretical analysis and experimental verification of the proposed solution effectiveness were performed.

3

Investigation of plasma ablation and crater formation processes in the Prague Asterix Laser System laser facility

Borodziuk S., Kasperczuk A., Pisarczyk T., Gus'kov S., Ullschmied J., Kralikova B., Rohlena K., Skala J., Kalal M., Pisarczyk P.

Optica Applicata

|

2004

|

Vol. 34, nr 1

31-42

EN

The present investigation of the processes of ablative plasma generation and formation of craters was carried out at the Prague Asterix Laser System (PALS) iodine laser facility. Experiments were performed with broad range of laser beam intensities (1013-1016 W/cm2), focal spot radii (35–600 mm), and two laser wavelengths (l1 = 1.315 mm and l3 = 0.438 mm). The laser beam was focused on the surface of the massive solid aluminum targets. The main goal of our study was to estimate conversion efficiency of the laser beam energy into the energy of shock waves for different mechanisms of laser beam–target interaction. The expansion of plasma generated as a result of the interaction process was observed by means of the 3-frame interferometry. Dimensions and shapes of the craters were determined using optical microscopy and wax-replica technique.

4

Microinterference methods of surface topography assessment

Łukianowicz C.

Metrology and Measurement Systems

|

2002

|

Vol. 9, nr 3

209-219

EN

The article presents the basic trends towards development of interference methods of surface topography assessment. A short review of interference methods of surface topography assessment on the basis of the phase stepping interferometry technique is produced. The options of surface topography assessment by interference methods are screened. The limits and the fundamental metrological parameters for these methods are laid down. The way to modernize the measuring apparatus being operated in Poland is also presented. An interference measuring system designed for surface topography assessment, as an example of such modernization, is presented. This system enables us to produce topographic maps and isometric surface pictures. Sample experimental results brought about by means of this system are shown herein.

PL

W artykule przedstawiono główne kierunki rozwoju interferencyjnych metod oceny topografii powierzchni. Dokonano krótkiego przeglądu interferencyjnych metod oceny stereometrii powierzchni opartych na technice dyskretnej zmiany fazy. Przedstawiono podstawową ideę oraz teoretyczne podstawy techniki dyskretnej zmiany fazy w zastosowaniu do oceny nierówności powierzchni. Idea ta polega na zarejestrowaniu sekwencji interferogramów badanej powierzchni, przy czym kolejne interferogramy rejestruje się po wprowadzeniu do jednej z interferujących fal świetlnych dodatkowych, dyskretnych zmian fazy. Przeanalizowano także możliwości oceny topografii powierzchni metodami interferencyjnymi z wykorzystaniem istniejących systemów pomiarowych. Podano ograniczenia oraz podstawowe parametry metrologiczne tych metod. Pokazano także sposób modernizacji istniejącej w kraju aparatury pomiarowej. Jako przykład takiej modernizacji, przedstawiono interferencyjny system pomiarowy przeznaczony do oceny topografii powierzchni. System ten zawiera zmodyfikowany, dwuzwiązkowy mikrointerferometr, kamerę TV, komputerowy układ akwizycji obrazów interferencyjnych oraz oprogramowanie przeznaczone do przetwarzania i analizy interferogramów. Pozwala on na tworzenie map warstwicowych oraz izometrycznych obrazów powierzchni. Zamieszczono przykładowe wyniki badań doświadczalnych, uzyskane za pomocą tego systemu.