Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!
Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: interferometria multispektralna

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Interferometr multispektralny do pomiaru długości płytek wzorcowych klasy K

Pakuła A., Sałbut L., Łukaszewski D., Wengierow M.

Biuletyn Wojskowej Akademii Technicznej

2009

Vol. 58, nr 1

405-413

Przedstawiony niżej tekst opisuje problem pomiaru długości długich płytek wzorcowych klasy K, o długości do 1000 mm, przy wykorzystaniu interferometru multispektralnego. W artykule przedstawiono wymagania, założenia i koncepcję interferometru multispektralnego opartego na układzie Twymana-Greena z automatyczną analizą obrazów prążkowych, wykorzystującego promieniowanie o długości fali: λ₁ = 632,8 nm i λ₂ = 543 nm.

The paper is dedicated to a problem of long gauge blocks, class K, length measurements. The main concept, requirements and asumptions concerning the multispectral interferometer based on the Twyman-Green setup with automatic fringe pattern analysis, working with the laser wavelengths λ₁= 632.8 nm and λ₂ = 543 nm were presented.

Numeryczna symulacja interferometru multispektralnego do pomiaru długości płytek

Wengierow M., Sałbut L.

Biuletyn Wojskowej Akademii Technicznej

2008

Vol. 57, nr 2

195-204

Przedstawiony niżej tekst opisuje numeryczną symulację interferometru do pomiaru długości płytek. W artykule przedstawiono koncepcję generacji syntetycznych interferogramów oraz algorytmu automatycznej analizy obrazu, umożliwiającego uwzględnienie wpływu czynników związanych z warunkami otoczenia, szumami oraz konfiguracją układu interferometru, w celu wprowadzenia poprawek do ostatecznego wyniku pomiaru.

The paper describes numerical simulation of a multispectral interferometer for gauge blocks length measurement. In the article we show a concept of synthesic interferograms generation and automatic fringe pattern analysis algorithm. This algorithm takes into account the influence of environmental conditions, noises and interferometer configuration itself. It allows us to add correction to final measurement results.