Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: interferometria koherentna skaningowa

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Systemy do pomiaru topografii powierzchni

Wieczorowski M.

Stal, Metale & Nowe Technologie

2014

nr 5-6

138--142

Pomiary nierówności powierzchni na podstawie profilu często nie odzwierciedlają rzeczywistego stanu powierzchni. Coraz częściej zatem przedmiotem zainteresowania jest fragment powierzchni, czyli pewien obszar, a nie tylko pojedynczy odcinek (profil). Analiza zmienia się wtedy z dwóch wymiarów (2D) na trzy (3D) i nazywana jest powszechnie pomiarami topografii powierzchni. W tym artykule zaprezentowane zostaną najbardziej powszechne rozwiązania stosowane w tej dziedzinie.