PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 5

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  interferometr Michelsona
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote Zastosowanie wibrometru laserowego do badań dyfuzyjności cieplnej materiałów stosowanych w elektronice
Bychto L.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2014
|
R. 90, nr 9
15-18
PL
Nowoczesne wibrometry laserowe o niespotykanej dotąd rozdzielczości, wynoszącej nawet 20pm [1], mogą znaleźć zastosowanie w badaniach właściwości cieplnych materiałów stosowanych w elektronice. Artykuł prezentuje próbę wykorzystania takiego wibrometru do wyznaczania dyfuzyjności cieplnej materiałów takich jak krzem, german i krzemogerman.
EN
Modern laser vibrometer of unprecedented resolution of even 20pm [1] may be used in studies of thermal properties of materials used in electronics. This article presents an attempt to use of such vibrometer to determine thermal diffusivity of the materials such as silicon, germanium and silicon-germanium.
2
Wykorzystanie identyfikacji rzędu interferencji w układzie interferometru Michelsona do wyznaczania długości fali diody laserowej
Żaba M.
Przegląd Mechaniczny
|
2007
|
nr 9 supl.
88-92
PL
W artykule przedstawiono metodą pomiaru długości fali diody laserowej. Ideą pomiaru jest jednoczesne wyznaczenie bezwzględnych wartości zmian faz prążków interferencyjnych wiązki światła lasera badanego i wiązki światła lasera wzorcowego przy określonej zmianie różnicy dróg optycznych w układzie interferometru Michelsona. Zmiana faz rozpoczyna się od zerowej różnicy dróg optycznych, dla której faza prążków dla obu laserów jest równa zero. Podczas zwiększania różnicy dróg optycznych zmiana rzędów interferencji jest określana za pomocą zbudowanego do tego celu licznika, którego budowa została szeroko omówiona w artykule. Po otrzymaniu określonych rzędów interferencji, uruchomiona zostaje procedura stabilizacji różnicy dróg optycznych. Stabilizację uzyskano poprzez utrzymywanie stałej wartości fazy prążków lasera wzorcowego. W tak stabilizowanym interferometrze dokonuje się pomiaru fazy prążków lasera badanego. We wstępnych badaniach osiągnięto względną niedokładność pomiaru długości fali diody laserowej na poziomie 3ź10-6.
EN
The method of laser diode wavelength determination for metrological application is presented. The measurement idea is based on absolute phase change measurement in the Michelson interferometer having optical path difference stabilization. Laser diode beam and He-Ne laser beam are used simultaneously as a source of light in the same Michelson interferometer. Interferometer reflectors positions referring to the zero optical path difference are located. Next optical path difference is increased and interference order of fringes of both lasers lights are evaluated by counting fringe method. Increase of the optical path difference is stopped when fringe order of He-Ne laser is equal about to 10000. At that point the optical path difference is stabilized using He-Ne laser light. Relation of the fringes phases values of both lasers appoints wavelength.
3
Content available Wyznaczanie długości i względnej niestabilności fali światła diody laserowej w układzie interferometru Michelsona ze stabilizowaną różnicą dróg optycznych
Żaba M., Dobosz M.
Pomiary Automatyka Kontrola
|
2007
|
R. 53, nr 9 bis
329--331
PL
W artykule przedstawiono budowę i działanie stanowiska do pomiaru długości oraz względnej niestabilności długości fali światła diody laserowej. Idea pomiaru polega na wyznaczeniu i porównaniu absolutnej wartości fazy rozkładu prążków interferencyjnych lasera badanego i wzorcowego w układzie interferometru Michelsona z systemem automatycznej stabilizacji różnicy dróg optycznych. Wiązki obu laserów są spolaryzowane względem siebie pod kątem prostym i wprowadzone są do układu interferometru po tym samym torze. Prostopadła polaryzacja wiązek laserowych, pozwala na późniejsze rozdzielenie i identyfikację pól interferencyjnych. W interferometrze określana jest zerowa różnica dróg optycznych a następnie jej wartość jest zwiększana z jednoczesnym pomiarem rzędów interferencji dla obu laserów. Po osiągnięciu zamierzonego rzędu interferencji lasera wzorcowego, uruchamiana zostaje procedura automatycznej stabilizacji różnicy dróg optycznych. Znajomość bezwzględnej wartości faz prążków obu laserów i długości fali lasera wzorcowego pozwala wyznaczyć długość fali diody laserowej, oraz względną niestabilność długości fali.
EN
The method of laser diode wavelength and wavelength instability determination for metrological application is presented. The measurement idea is based on absolute phase change measurement in the Michelson interferometer having optical path difference stabilization. Laser diode beam and He-Ne laser beam are used simultaneously as a source of light referring to the zero optical path difference are located. Next optical path lights are evaluated by counting fringe method. Increase of the optical path difference is stoped when fringe order of He-Ne laser is equal about to 10000. At point the optical path difference is stabilized using He-Ne laser light. Relation of the fringes phases values of both laser appoints wavelength and its relative wavelength instability.
4
Wyznaczanie długości fali światła diody laserowej w układzie interferometru Michelsona ze stabilizowaną różnicą dróg optycznych
Żaba M., Dobosz M.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2007
|
Vol. 48, nr 2
9-12
PL
Idea pomiaru polega na porównywaniu wartości zmian faz prążków interferencyjnych lasera wzorcowego i diody laserowej uzyskanych jednocześnie w tym samym układzie interferometru Michelsona przy zmienianej różnicy dróg geometrycznych. Każdorazowa zmiana różnicy dróg geometrycznych jest równa długości fali lasera wzorcowego. Po wprowadzeniu zmiany różnica dróg optycznych jest stabilizowana na podstawie rozkładu fazy prążków interferencyjnych lasera wzorcowego. Długość badanej fali diody laserowej jest wyznaczana na podstawie stosunku zmian fazy lasera wzorcowego i badanego. W celu redukcji wpływu losowych czynników zakłócających pomiar, do analizy wyników wykorzystano model regresji liniowej.
EN
The measurement idea is based on comparing of phases variations in the same Michelson-type interferometer at change optical path difference. Each change of the optical path difference is equal of the laser diode wavelength. After each change, the optical path difference is stabilized by observing the laser diode fringe phase. Thus, the ratio observed variations of the phase reference laser and phase of the laser diode fringes is a measure of the laser diode wavelength. In order to minimized influence of random disturbance factors on measurement process, linear regression model is used.
5
Content available remote Badanie zjawisk towarzyszących rozchodzeniu się fal ultradźwiękowych w powietrzu
Rozwadowski M., Sandell B.
Postępy Fizyki
|
2000
|
T. 51, z. 6
306-309
EN
The paper describes laboratory experiments on propagation, transmission, reflection, diffraction and interference of ultrasound waves in the atmosphere.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.