Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Przegląd Spawalnictwa

1 2016

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: interference microscopy

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Badania cech powierzchni z wykorzystaniem optycznych metod skaningowych – wymagania i pomiary zgodnie z wytycznymi serii PN-EN ISO 25178

Grochala D., Bachtiak-Radka E., Dudzińska S.

Przegląd Spawalnictwa

2016

R. 88, nr 10

92--96

Zużycie części maszyn zaczyna się od powierzchni. Niekontrolowane zużycie prowadzi do utraty użyteczności technologicznej wyrobów, a nawet ich całkowitego zniszczenia. Zatem bardzo ważne okazuje się nadanie odpowiednich właściwości powierzchniom wytwarzanych wyrobów. Równie ważne jak technologia powierzchni staje się jej badanie. W przeciągu ostatnich lat pojawiają się normy z rodziny ISO 25178 dotyczące specyfikacji geometrii wyrobów i Struktury Geometrycznej Powierzchni (SGP). Najpierw pojawiały się normy związane z metodyką pomiarów oraz sposobem wyznaczania parametrów określających właściwości technologiczne i eksploatacyjne SGP. Dopiero na samym końcu pojawiła się zasadnicza – pierwsza część normy (ISO 25178-1:2016en), która standaryzuje sposób definiowania i nanoszenia symboliki w dokumentacji konstrukcyjnej i technologicznej. W artykule przybliżono możliwości analizy wybranych grup parametrów SGP z wykorzystaniem optycznych metod skaningu, symbolikę stosowaną w zapisie konstrukcji dotyczącą warunków pomiaru cech funkcjonalnych i technologicznych powierzchni.

The wear of machine parts starts from the surface. Uncontrolled consumption leads to loss of technological products properties or even their total destruction. Therefore, it is extremely important to give the appropriate properties of surfaces manufactured. As important as the surface technology becomes is its research. Over the last six years, are develop standards of the ISO 25178 on the specifications of geometry and Geometric Surface Specification (GPS). Interestingly, first appeared norms related to the way of defining the parameters defining the technological and operational properties of the GPS. Only at the end there was a fundamental - the first part of the standard (ISO 25178-1: 2016en), which standardizes the way of defining and marking in the construction and technological. The article show the possibilities of analysis of selected groups of parameters GPS using optical scanning methods, the symbolics used in the documentation and the conditions for measuring the technological surface requirements.