Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: interfejs przetwornika

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

A transducer interface for resistive sensor elements based on the use of a flip-flop

Kollar M.

Metrology and Measurement Systems

2005

Vol. 12, nr 1

27-45

This paper presents a new transducer interface. This interface serves the resistive bridges. The A/D conversion is based on the use of an auto-compensatory system with two digital-to-analog converters (DACs). A new measurement technique based on the use of a flip-flop circuit is used to obtain high accuracy. The main advantages of the depicted architecture are: a) Calibration accuracy depends only on LSB and maximal differential non-linearity (max(DNL1)) of the first digital-to-analog converter (DAC), b) Resultant accuracy of measurement depends on calibration accuracy and on accuracy of the second DAC, c) Calculation of a correction formula (or look up table) and input amplifier are not required. The experimental measurement circuit with flip-flop was constructed and simulated to verify operation of the measurement.

Niniejszy artykuł przedstawia nowy interfejs przetwornika. Ten interfejs jest używany z mostkami opornościowymi. Przetwarzanie analogowo-cyfrowe opiera się na użyciu systemu samokompensacyjnego z dwoma przetwornikami cyfrowo-analogowymi (D/A). Dla uzyskania dużej dokładności zastosowano nowy sposób pomiaru oparty na użyciu przerzutnika bistabilnego. Głównymi zaletami opisanej architektury są: a) Dokładność kalibracji zależy jedynie od LSB i maksymalnej nieliniowości różnicowej max(DNL1) pierwszego przetwornika cyfrowo-analogowego, b) Wypadkowa dokładność pomiaru zależy od dokładności kalibracji oraz od dokładności drugiego przetwornika analogowo-cyfrowego, c) Obliczenie wzoru korekcyjnego (lub tablicy przeglądowej) i wzmacniacz wejściowy nie są wymagane. Doświadczalny układ pomiarowy z przerzutnikiem bistabilnym został wykonany i symulowany w celu weryfikacji pomiaru.