This paper is concerned with seeking new applications for the Dempster-Shafer Theory that are by their nature better suited to the axiomatic framework of this theory. In particular, wafer processing on a integrated circuits production line, chemical product quality evaluation etc. are considered. Some extensions to basic DST formalism are envisaged.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.