Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Metrology and Measurement Systems

1 2005

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: infraniskie częstotliwości

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

New instruments to measure parameters of infra-low frequency voltage signals

Kalus-Jęcek B., Kuśmierek Z.

Metrology and Measurement Systems

2005

Vol. 12, nr 1

47-57

The paper presents the design, the principles of operation and the technical specification of two types of infra-low frequency voltage instruments: the integrating converter instrument and the microprocessor instrument. Both instruments are designed for the following frequency range: 0.01-10 Hz. The integrating converter instrument measures the mean modulus value and the rms value of voltage. The microprocessor instrument measures the mean modulus value, the rms value, the shape coefficient and the frequency of the measured signal at the same time. The measurement takes from one to four periods of the measured signal.

W artykule przedstawiono budowę, zasadę działania oraz dane techniczne dwóch typów mierników parametrów sygnałów napięciowych o częstotliwościach z zakresu 0.01-10 Hz: miernika z przetwornikiem całkującym oraz miernika mikroprocesorowego. Miernikiem z przetwornikiem całkującym można mierzyć wartość średnią z modułu i wartość skuteczną napięć z zakresu 0-1000 V z dokładnością š 1 % w czasie od jednego do czterech okresów sygnału badanego. Miernikiem mikroprocesorowym można mierzyć jednocześnie: wartość średnią z modułu, wartość skuteczną i współczynnik kształtu z dokładnością š 0.5 5 oraz częstotliwość napięcia badanego z dokładnością š 0.15 %. Czas pomiaru miernikiem mikroprocesorowym wynosi od 1.5 do 3.5 okresów sygnału badanego.