Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  image stacking
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
PL
W artykule przeanalizowano jedną z cech obrazów wynikowych uzyskanych metodą nakładania obrazów. Wykorzystano obrazy skaterometryczne rejestrowane w postaci sekwencji video podczas ruchu badanych powierzchni, oświetlanych światłem laserowym o długości fali λ = 635 nm skierowanym pod kątem padania równym 50°. Sekwencje przetwarzano za pomocą specjalistycznego oprogramowania o nazwie RegiStax 4.0, w celu uzyskania pojedynczych obrazów wynikowych o uśrednionej wartości luminacji. Dla różnej liczby nakładanych klatek obserwowano wzrost zakresu dynamicznego sygnału zawartego w obrazie. Cechę tę analizowano na podstawie wyznaczanych histogramów luminacji dla każdego z ocenianych obrazów.
EN
In the paper the theoretical bases of image stacking and the analysis of one of the features of output images obtained by this technique are presented. The authors used the images of scattered light in the form of video sequences acquired during the movement of the tested surfaces which were illuminated by a laser light beam (wavelength λ = 635 nm, incidence angle: 50 degree). The video sequences were processed by RegiStax 4.0 software. The software extracted automatically single frames from a sequence, aligned them and, then, stacked the images to produce an average value of the luminance. In the result of all these operations a single output image was created. For different numbers of the stacking frames there was observed the increase in the dynamic range of the signal content in output images. This feature was analysed on the basis of assessment of the luminance histograms by ImageJ 1.41 software. The increase in the dynamic range of the signal content in images of the scattered light can make it possible to obtain better information on the surface condition and, the same, correct metrological assessment of this surface. The presented method can be applied to in-process inspection of surface parameters and detection of surface defects of machine parts.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.