The article presents a method using probes placed on one side, which were used to collect measurements in electrical tomography on the presence of inclusions in the object. Linear discriminant analysis was used for this purpose. The results of the linear discriminant analysis method are presented. The presented algorithm was used in the process of converting the electrical input values into conductance, which are represented by the pixels of the output image.
PL
W artykule została zaprezentowana metoda wykorzystująca sondy umieszczone po jednej stronie, które posłużyły do zbierania pomiarów w tomografii elektrycznej na temat występowania wtrąceń w obiekcie. W tym celu została wykorzystana Liniowa analiza dyskryminacyjna. Przedstawiono wyniki badań nad metodą liniową analizą dyskryminacyjną. Przedstawiony algorytm został wykorzystany w procesie konwersji wejściowych wartości elektrycznych na konduktancję, które są reprezentowane poprzez piksele obrazu wyjściowego.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.