Oceniono znaczenie gęstości próbkowania poziomego oraz poziomu dekompozycji falkowej w aspekcie zastosowania poszczególnych funkcji falkowych do podziału badanego profilu pierwotnego na składowe nierówności powierzchni. Pomiary profili powierzchni wykonano za pomocą profilometru stykowego, z określoną gęstością próbkowania. Analizie poddano dwa typy powierzchni: wytworzoną techniką przyrostową oraz po obróbce szlifowaniem.
EN
The paper assesses the impact of horizontal sampling density and level of wavelet decomposition in the aspect of applying mother wavelet to divide components of surface texture. Measurements of surface profiles were made using a contact profilometer applying a specific sample density. Two types of surfaces were prepared: using additive technology and grinding.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.