Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 2014

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: hole roundness measurement

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Pomiary geometryczne wybranych detali wyrobów odlewniczych z zastosowaniem analizy obrazów

Gasz R., Zator S.

Pomiary Automatyka Kontrola

2014

R. 60, nr 4

253--256

Główną zaletą korzystania z metod przetwarzania obrazów w zastosowaniach diagnostycznych i pomiarowych jest ich szybkość, względnie mała niepewność pomiaru oraz stosunkowo niski koszt układu pomiarowego. Autorzy w artykule przedstawiają wybrane metody oceny stanu wykonania elementów odlewniczych. Głównym celem analizy było wybranie metody określenia jakości wykonania otworów w elementach odlewniczych, tj. ich położenia, odchyłki od zarysu okrągłości oraz tolerancji wykonania powierzchni płaskich.

The main advantage of image processing methods for diagnostic and measurement applications is their speed, accuracy and relatively low price. The authors of the paper describe the method and algorithms used to assess the workmanship of casting components. The main task was to determine the quality of holes in the components, their location and deviation from the roundness profile as well as the tolerances of fabrication of flat surfaces. Currently, the most common method of assessing the condition of this type of castings is the use of appropriate templets. This method is inexpensive, but relatively slow. The method proposed in the paper is fast and accurate. A more accurate measurement can be obtained using the coordinate measuring machine (CMM), however, the cost of the assessment is disproportionate to its objective. An important aspect of the methods discussed is the use of suitable equipment for diagnostic purposes. The solution proposed by the authors used to evaluate the arrangement and shape of holes can be a fast and accurate tool for the evaluation of the workmanship of casting components. The proposed methods allow obtaining good results. They differ in the ways of obtaining images and image processing algorithms used. Both methods give results on the level of accuracy of several μm, which is sufficient for measurement purposes.