Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Powiadomienia systemowe

Sesja wygasła!
Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: high-resolution transmission electron microscopy

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Influence of the repetitive corrugation on the mechanism occuring during plastic Deformation of CuSn6 alloy

Nuckowski P. M., Kwaśny W., Rdzawski Z., Głuchowski W., Pawlyta M.

Archives of Metallurgy and Materials

2016

Vol. 61, iss. 3

1261--1264

Influence of the repetitive corrugation on the mechanism occuring during plastic Deformation of CuSn6 alloy This paper presents the research results of Cu$n6 alloy strip at semi-hard state, plastically deformed in the process of repetitive corrugation. The influence of process parameters on the mechanical properties and structure of examined alloy were investigated. Examination in high-resolution transmission electron microscopy (HRTEM) confirmed the impact of the repetitive corrugation to obtain the nano-scale structures. It has been found, that the application of repetitive corrugation increases the tensile strength (Rm). yield strength (Rpo:) and elastic limit (Rpo.os) of CuSn6 alloy strips. In the present work it has been confirmed that the repetitive corrugation process is a more efficient method for structure and mechanical properties modification of commercial CuSn6 alloy strip (serni-hard) as compared with the classic rolling process.

Morfologia powierzchni międzyfazowych w wielowarstwowych strukturach periodycznych AlGaAs/GaAs

Barańska A., Kosiel K., Kubacka-Traczyk J., Bugajski M., Pasternak I., Płociński T., Kurzydłowski K.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2010

Vol. 51, nr 10

112-115

Artykuł przedstawia wyniki badań morfologii powierzchni międzyfazowych heterostruktur epitaksjalnych AlGaAs/GaAs. Struktury zostały wykonane metodą epitaksji z wiązek molekularnych (MBE). Charakteryzację struktur przeprowadzono stosując mikroskopię sił atomowych (AFM) oraz wysokorozdzielczą transmisyjną mikroskopię elektronową (HRTEM). Badano warstwy GaAs/GaAs, AlGaAs/GaAs oraz wielowarstwowe struktury periodyczne AlGaAs/GaAs, osadzane na podłożach o orientacji (100).

The paper presents some results of investigation of interfacial morphology in AlGaAs/GaAs epitaxial heterostructures. The structures were grown by molecular beam epitaxy (MBE). Their characterisation was performed by atomie force microscopy (AFM) and high-resolution transmission electron microscopy (HRTEM). The simple GaAs/GaAs, AlGaAs/GaAs as well as multilayer, periodic AlGaAs/GaAs heterostructures deposited on (100) GaAs substrates were studied.