Ograniczanie wyników
Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  high frequency losses
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
EN
Indium tin oxide (ITO) electrodes are widely used for liquid crystal applications as well as for measuring cells. Unfortunately, ITO layer possesses its own non zero resistivity R which produces (with the capacity C) the cut-off frequency f0 of RC circuit. Dielectric spectroscopy cannot be performed for high frequencies because of high frequency losses caused by the cell behaviour. Four procedures for estimating and extracting high frequency losses in ITO cells are presented and compared in this paper. Their limitations and viability are discussed.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.