In this paper the authors attempt to perform the analysis of the thermographic images of thin metal layers obtained in PVD (physical vapor deposition) process as the part of the working textronic system. The authors also briefly characterize algorithms applied in data classification: algorithm k medium, COBWEB algorithm and the grouping algorithm. The identification of defects of thin film structures using image recognition algorithms are presented.
PL
W artykule autorzy dokonują analizy obrazów termograficznych cienkich warstw metalicznych wykonanych w procesie PVD (physical vapor deposition) jako części roboczej systemu tekstronicznego. Scharakteryzowano również krótko algorytmy zastosowane przy klasyfikacji danych: algorytm k średnich, algorytm COBWEB oraz algorytm grupujący. Wykorzystując zaprezentowane algorytmy rozpoznawania obrazów dokonano identyfikacji defektów struktur cienkowarstwowych.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.