Zaprezentowane zostały dwie metody profilowania wiązki diody laserowej. Metoda goniometryczna pozwala na dokładny pomiar rozkładów kątowych w dwóch ortogonalnych płaszczyznach. Metoda komplementarna bazuje na wykorzystaniu kamery CCD i umożliwia szybkie pomiary rozkładów intensywności diody laserowej w polu dalekim.
EN
Two measurement methods for high-power diode laser's beam profiling have been developed. Goniometric method enables accurate divergence and far-field profile determination. Complementary, CCD camera-based method provides immediate, two-dimensional information about the diode laser intensity distribution in the far-field.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.