Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

1 2008

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: global parametric faults

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Globalne uszkodzenia parametryczne w testowaniu analogowych układów scalonych

Jantos P., Grzechca D., Golonek T., Rutkowski J.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2008

Vol. 49, nr 11

122-125

W artykule przedstawiono analizę wpływu globalnych uszkodzeń parametrycznych na odpowiedź analogowych układów scalonych (AIC) w dziedzinie czasu. Nowością jest wykorzystanie relacji oraz super-relacji pomiędzy wcześniej wspomnianymi cechami odpowiedzi układów. Przedstawiona metoda powinna pozwolić na zwiększenie testowalności oraz diagnozowalności globalnych uszkodzeń parametrycznych (GPF) w produkcji analogowych i hybrydowych układów scalonych. Wpływ GPF na wspomniane cechy odpowiedzi AIC został przedstawiony z wykorzystaniem przykładu obliczeniowego. Prezentowane badania stanowią wstęp do przygotowania systemu diagnostycznego AIC sterowanego uszkodzeniami (Fault Driven Test - FDT) z symulacją przedtestową (Simulation Before Test - SBT).

This paper presents an analysis of an influence of global parametric faults on analogue integrated circuits (AIC) time domain response features. A novelty is the analysis of relations and superrelations between aformentioned features. Presented method should increase testability and diagnosability of the global parametric faults (GPF) on a production line of analogue and mixed electronic circuits. GPF influence on abovementioned features is presented with the use of an exemplary ciruit. A research presented in this paper may be used as an introduction to a Fault Driven Test diagnosis of AIC with the Simulation Before Test.