Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Przegląd Elektrotechniczny

1 2010

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: generator wektorów testowych

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Testing of crosstalk-type dynamic faults in interconnection networks with use of ring LFSRs

Hławiczka A., Gucwa K., Garbolino T., Kopeć M.

Przegląd Elektrotechniczny

2010

R. 86, nr 11a

133-137

The need to apply the test-per-clock method at full clock rates to test crosstalks in networks of long interconnects between modules in a System on a Chip (SoC) is highlighted. Our method involves the 3n-R-LFSR (Ring Linear Feedback Shift Register). The part of the R-LFSR that generates test patterns for n–interconnects has double number of flip-flops where every second flip-flop is connected to the network of Interconnects Under Test (IUT). It has been proved that the 3n-R-LFSR is capable to generate all the two-test patterns that are necessary for IUT. The completed simulation experiments evidenced efficiency of the method application to test crosstalks that are manifested by either a glitch or an edge delay.

Przedstawiono metodę wykrywania przesłuchów w długich połączeniach pomiędzy blokami układów SoC. Wykorzystano liniowy rejestr pierścieniowy R-LFSR. Część rejestru generująca wektory testowe ma podwojoną liczbę przerzutników w stosunku do typowego rejestru pierścieniowego, co drugi przerzutnik połączony jest z testowaną siecią połączeń. Wykazano, że taki rejestr może wygenerować wszystkie pary testów niezbędne do wykrycia przesłuchów.