Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

2 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: frequency to voltage conversion

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Szybki i wysokorozdzielczy miernik częstotliwości na bazie układów FPGA

Szecówka P., Sługocki G., Gotszalk T.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2010

Vol. 51, nr 2

107-109

Artykuł przedstawia koncepcję szybkiego pomiaru stosunkowo niskich częstotliwości. Zaproponowano architekturę specjalizowanego układu cyfrowego. Opisano implementację w języku VHOL, konstrukcję prototypu opartą o układ FPGA i fizyczne testy miernika. W przykładowej wersji, wykonanej dla potrzeb pomiarów częstotliwości rezonansowych w mikroskopii sił atomowych AFM, urządzenie pozwala mierzyć częstotliwości z zakresu od 10 ... 140 kHz, z rozdzielczością pojedynczych Hz, w czasie poniżej 300 μs. W projekcie zastosowano własną konstrukcję sekwencyjnego mechanizmu realizującego arytmetyczną operację dzielenia. Oprócz wyświetlacza LCO, urządzenie wyposażono w przetwornik cyfrowo-analogowy rozszerzający jego funkcjonalność o konwersję częstotliwość-napięcie.

The paper presents a concept of fast measurement of relatively low frequency. Architecture of dedicated digital circuit is proposed. The design was implemented in VHOL. The prototype with functionality embedded in FPGA was constructed and physically tested. Presented version of device, dedicated for the resonant frequency measurements in Atomic Force Microscopy works for the range of 10 ... 140 kHz, with resolution of 1 Hz and accuracy of 0.01%. Single measurement takes less than 300 μs. In-house developed sequential arithmetic module for division was applied. Besides the LCO output, the device is equipped with O/A converter which extends its functionality to frequency-to-voltage conversion.

Szybki i wysokorozdzielczy miernik częstotliwości na bazie układów FPGA

Szecówka P., Sługocki G., Gotszalk T.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2009

Vol. 50, nr 10

113-116

Artykuł przedstawia koncepcję szybkiego pomiaru stosunkowo niskich częstotliwości. Zaproponowano architekturę specjalizowanego układu cyfrowego. Opisano implementację w języku VHDL, konstrukcję z układem FPGA i fizyczne testy miernika. W przykładowej wersji, wykonanej dla potrzeb pomiarów częstotliwości rezonansowych w mikroskopii sił atomowych AFM, urządzenie pozwala mierzyć częstotliwości z zakresu 10...140 kHz, z rozdzielczością pojedynczych Hz. w czasie poniżej 300 μs. W projekcie zastosowano własną konstrukcję sekwencyjnego mechanizmu realizującego arytmetyczną operację dzielenia. Oprócz wyświetlacza LCD, urządzenie wyposażono w przetwornik cyfrowo-analogowy, rozszerzający jego funkcjonalność o konwersję częstotliwość-napięcie.

The paper presents a concept of fast measurement of relatively low frequency. Architecture of dedicated digital circuit is proposed. The design was implemented in VHDL. The prototype with functionality embedded in FPGA was constructed and physically tested. Presented version of device, dedicated for the resonant frequency measurements in Atomic Force Microscopy works for the range of 10 kHz -140 kHz, with resolution of 1 Hz and accuracy of 0.01%, Single measurement takes less than 300 μs. In-house developed sequential arithmetic module for division was applied. Besides the LCD output, the device is equipped with D/A converter which extends its functionality to frequency-to-voltage conversion.