Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

1 2013

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: fotonapięcie powierzchniowe SPV

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Pomiary SPV krzemu stosowanego w fotowoltaice z wykorzystaniem wielokanałowego źródła optycznego

Bychto L., Patryn A.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2013

Vol. 54, nr 5

47-50

Metody pomiaru fotonapięcia powierzchniowego SPV są kluczowymi technikami wyznaczania istotnych parametrów materiałów półprzewodnikowych, w szczególności krzemu SQSi (Solar Quality Silicon) stosowanego do produkcji ogniw słonecznych. Celem pracy jest wykazanie, że możliwe jest zastąpienie elementów mechanicznych części wzbudzającej SPV półprzewodnikowymi źródłami światła (SSL). W artykule omówiono zagadnienia dotyczące opracowania i wykonania bloku wzbudzającego z użyciem diod LED i sprzęgacza światłowodowego układu SPV, a także pomiarów podstawowych parametrów optycznych bloku wzbudzającego oraz próbnych badań materiałów krzemowych metodą SPV w trybie stałego strumienia światła. Uzyskane wyniki potwierdziły możliwość wykorzystania elementów SSL do budowy bloku wzbudzającego.

The surface photovoltage method SPV is one of the key methods for evaluation essential intrinsic parameters of semiconductor materials, especially Silicon used for solar cells production. The aim of the paper is the developing the SPV method in the way in which traditional excitation system based on lamp source and monochromator may be replaced with electronic controlled semiconductor source of light (SSL). The paper presents results of design and realization of the excitation block on a base of LED diodes and optical fiber splitter as well as results of analysis of semiconductor materials by using the SPV method in the constant photon flux mode. The obtained results confirmed the possibilities of reasonable using of the SSL elements to design an excitation block for SPV analysis the solar quality silicon materials.