Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Mechanik

1 2014

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: focus stacking

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Algorytm cyfrowej korekcji głębi ostrości w elektronowej mikroskopii skaningowej

Bużantowicz M., Bużantowicz W.

Mechanik

2014

R. 87, nr 7CD

59—68

Głębia ostrości w skaningowych mikroskopach elektronowych (SEM) ograniczona jest czynnikami fizycznymi. Opracowany algorytm eliminuje niepożądane efekty charakterystyczne dla serii zobrazowań SEM (przesunięcia, zmiany geometrii) oraz zwiększa głębię ostrości poprzez cyfrową korekcję i złożenie zbioru fotografii w jeden obraz o żądanych parametrach. Działanie aplikacji jest niezależne od typu mikroskopu, stąd może ona współpracować z urządzeniami pomiarowymi różnych producentów. Istnieje również możliwość wykorzystania przedstawianego algorytmu do korekcji zobrazowań pozyskiwanych z klasycznych mikroskopów optycznych.

The depth of field (DoF) in scanning electron microscopes (SEM) is limited by physical factors. The developed algorithm eliminates adverse characteristics for a variety of SEM visualizations (drifts, changes in geometry) and increases the DoF by digital correction and assembling a set of photographs into a single image with desired parameters. The algorithm is independent from the type of device, so it can cooperate with microscopes delivered by different manufacturers. There is also a possibility of using the proposed solution to increase quality of visualizations obtained from conventional optical microscopes.