Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

2 Metrology and Measurement Systems

2 Kollar M.

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: flip-flop circuit

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

A transducer interface for resistive sensor elements based on the use of a flip-flop

Kollar M.

Metrology and Measurement Systems

2005

Vol. 12, nr 1

27-45

This paper presents a new transducer interface. This interface serves the resistive bridges. The A/D conversion is based on the use of an auto-compensatory system with two digital-to-analog converters (DACs). A new measurement technique based on the use of a flip-flop circuit is used to obtain high accuracy. The main advantages of the depicted architecture are: a) Calibration accuracy depends only on LSB and maximal differential non-linearity (max(DNL1)) of the first digital-to-analog converter (DAC), b) Resultant accuracy of measurement depends on calibration accuracy and on accuracy of the second DAC, c) Calculation of a correction formula (or look up table) and input amplifier are not required. The experimental measurement circuit with flip-flop was constructed and simulated to verify operation of the measurement.

Niniejszy artykuł przedstawia nowy interfejs przetwornika. Ten interfejs jest używany z mostkami opornościowymi. Przetwarzanie analogowo-cyfrowe opiera się na użyciu systemu samokompensacyjnego z dwoma przetwornikami cyfrowo-analogowymi (D/A). Dla uzyskania dużej dokładności zastosowano nowy sposób pomiaru oparty na użyciu przerzutnika bistabilnego. Głównymi zaletami opisanej architektury są: a) Dokładność kalibracji zależy jedynie od LSB i maksymalnej nieliniowości różnicowej max(DNL1) pierwszego przetwornika cyfrowo-analogowego, b) Wypadkowa dokładność pomiaru zależy od dokładności kalibracji oraz od dokładności drugiego przetwornika analogowo-cyfrowego, c) Obliczenie wzoru korekcyjnego (lub tablicy przeglądowej) i wzmacniacz wejściowy nie są wymagane. Doświadczalny układ pomiarowy z przerzutnikiem bistabilnym został wykonany i symulowany w celu weryfikacji pomiaru.

Sigma-delta modulator for force measurement based on the use of a flip-flop circuit and presentation of simulated results

Kollar M.

Metrology and Measurement Systems

2004

Vol. 11, nr 1

3-19

This paper describes a flip-flop circuit-based sigma-delta modulator for force measurement. The main part of the proposed system is a modified flip-flop used as a comparator, inside of which switched capacitors replace the classical load resistors. The functional principle lies in the fact that if capacitive asymmetry caused by the force to be measured, is such that the flip-flop holds a stable state where, for example, a higher voltage is on a second transistor, then it produces a higher force between the parallel plates connected to the same transistor to decrease the resulting capacitive asymmetry. The main advantage of the flip-flop, besides its simplicity, is the compensation of the influence of flicker noise, which is mathematically described in this paper. The theoretical conclusions are compared with the results of simulations with TSPICE and Matlab-Simulink, with respect to the measurement system realized in 0.8 [mi]m CMOS technology. The results were in agreement with theoretical results.

Artykuł przedstawia modulator typu sigma-delta do pomiaru siły. Główną jego częścią jest zmodyfikowany układ komparatora oparty na przerzutnikach, w którym pojemności przełączane zastępują klasyczne rezystory. Zasada działania opiera się na zjawisku zakłócenia asymetrii pojemności mierzoną siłą. Główną zaletą użycia przerzutników w tym układzie, poza ich prostotą, jest kompensacja wpływu szumów typu flicker, co udowodniono w pracy. Wnioski teoretyczne są zgodne z wynikami symulacji dokonanych w TSPICE i pakiecie Matlab-Simulink. Układ opracowano w technologii CMOS 0.8 mikrometra.