PL
 |
EN
Ograniczanie wyników
Czasopisma help
  1. 1 Przegląd Elektrotechniczny
Autorzy help
  1. 1 Dybczyński W.
Lata help
  1. 1 2005
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  faktura mikrostrukturalna
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote Krzywa wskaźnikowa rozpraszania powierzchni z fakturą stożkową
Dybczyński W.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2005
|
R. 81, nr 7-8
50-52
PL
Opisano sposób wyznaczania krzywej wskaźnikowej rozpraszania materiałów odbłyśnikowych pokrytych stożkową fakturą rozpraszającą z różnym współczynnikiem wypełnienia. W rozważaniach uwzględniono różne wartości kątów użytecznych i różne stopnie rozpraszania światła przez działanie faktury mikrostrukturalnej.
EN
The method for estimation of scattering indicatrix of small cones covered reflecting surface with different packing coefficient. In the discussion the different operational angles as well as different scattering grade of the microstructural scattering surface.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.