Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Źródła niewiarygodności pomiarów topografii powierzchni

Miller T.

Mechanik

|

2016

|

R. 89, nr 11

1722--1723

PL

Przedstawiono zakłócenia, jakie mogą wystąpić w pomiarach topografii powierzchni, w szczególności w układzie pomiarów 3D oraz w przetwarzaniu danych z pomiarów w programach do analizy. Przedstawiono strukturę źródeł błędów w podziale na kategorie związane z różnymi elementami procesu pomiarowego.

EN

The paper presents threats that may occur in the surface topography measurements, in particular in the 3D measurement and processing of the measured data in analysis applications. The structure of the sources of errors by categories related to the different elements of the measurement process was presented.

2

System akwizycji danych i model wzorca do weryfikacji dokładności rezystancyjnego systemu tomograficznego

Potyrański P., Dorozhovets M.

Pomiary Automatyka Kontrola

|

2006

|

R. 52, nr 12

26-29

PL

W artykule przedstawiono praktyczne rozwiązanie i wyniki badań systemu akwizycji danych i metody metrologicznej weryfikacji dokładności rezystancyjnego systemu tomograficznego. Metoda weryfikacji oparta jest na zastosowaniu wzorca (symulującego rozkład rezystywności) złożonego z sieci elementów dyskretnych - rezystorów i kondensatorów. Proponowana metoda pozwala na weryfikację dokładności, selektywną lub sumaryczną, elementów systemu tomograficznego.

EN

In this paper the accuracy verification technique and the data acquisition system are proposed and investigated. The verification method is based on the reference model of conductivity distribution. The reference model is constructed as a network of the discrete resistors and capacitors. Proposed technique permits to verify (jointly or separately) the data acquisition system, reconstruction algorithm and approximation effects. The reference network parameters and the stages of the verification are described.

3

Podstawy mikroskopii sił atomowych w badaniach polimerów

Żenkiewicz M., Plański J.

Polimery

|

1999

|

T. 44, nr 7-8

520-532

PL

Przedstawiono ogólny zakres zastosowań i możliwości badawczych mikroskopu sił atomowych (AFM). Omówiono konstrukcję jego podstawowych podzespołów (dźwignia i ostrze pomiarowe, układ pomiaru ugięcia dźwigni, skaner, system sprzężenia zwrotnego, komputerowy generator obrazu). Opisano rodzaje oddziaływań (van der Waalsa, elektrostatyczne, magnetyczne, kapilarne i siły odpychania krótkiego zasięgu) oraz sposoby ich badania za pomocą tego mikroskopu. Dokonano analizy podstawowych i zespolonych systemów pracy AFM, wskazując na ich najistotniejsze zastosowania. Scharakteryzowano ograniczenia badawcze i główne źródła błędów (drgania zewnętrzne, zmiana wymiarów elementów konstrukcyjnych pod wpływem zmian temperatury) w pomiarach za pomocą AFM.

EN

A general scope of applications and research possibilities is presented for the atomic force microscope (AFM). Construction of fundamental subassemblies, viz., lever and measuring edge, lever deflection measuring system, scanner, feedback system, computerized image generator, is described. Interaction types (van der Waals, electrostatic, magnetic, capillary and short-range repulsion forces) are presented and methods of their AFM studies are presented. The major and combined AFM operation systems are described and major applications emphasized. Research limitations and major error sources are indicated (external vibrations, temperature dilatation or shrinkage of construction details).