This study includes the results of tests related to selecting the data collection parameters for EBSD analysis, correction and modification of the EBS diffraction patterns, and use of selected functionalities of the commercial OIM system. The study also shows the local misorientation range and the local relationships of the crystal lattice orientation at interfaces and grain boundaries, estimated in the polyphase microregions of selected AlFeMnSi alloys.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.