Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 3

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: elektrodyfuzja

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Resistive memory physical mechanism in a thin-film Ag/YBa2Cu3O7-x/Ag structure

Waśkiewicz J., Gołębiowski J.

Przegląd Elektrotechniczny

2015

R. 91, nr 11

313-317

This paper presents results of experimental research on the electro-resistance memory effect in a thin-film Ag/YBa2Cu3O7-x/Ag structure at temperatures of 78K to 300K. This phenomenon was explained by processes of destruction and recovery the oxygen-depleted layers situated close to electrodes and within the superconductor volume. The processes occur through ion electro-diffusion by numerous oxygen vacancies existing in perovskite-type materials.

W pracy przedstawiono wyniki badań doświadczalnych zjawiska pamięci elektrorezystancyjnej w strukturze cienkowarstwowej Ag/YBa2Cu3O7-x/Ag w temperaturach od 78K do 300K. Zjawisko to wyjaśniono procesami likwidacji i odtwarzania warstw zubożonych w jony tlenu, znajdujących się w sąsiedztwie elektrod oraz w objętości nadprzewodnika. Procesy te zachodzą na drodze elektrodyfuzji jonów poprzez liczne wakansy tlenowe obecne w materiałach typu perowskitu.

Elektrodyfuzyjna metoda identyfikacji warstwy cząstek osadzonych w aparatach

Jirout T., Moravec J., Rieger F., Rzyski E.

Inżynieria i Aparatura Chemiczna

2006

Nr 4s

74-76

A new application of the electrodiffusional method for the identification of the sedimented particle layer at the wall has been presented. In this way one can identify a flow near the wall and ty was presented on examples of dense media applied in coal preparation.

Thin dielectric electrodiffusion masks for Ag+ - Na+ ion exchange applications

Mrozek E., Mrozek P.

Journal of Technical Physics

2003

Vol. 44, no 3

289-294

A new method of thin dielectric mask preparation for Ag+ - Na+ ion exchange applications was developed. Electrodiffusion bonding of Al-film to glass was used to obtain very thin dielectric Al2O3 layer in the Al-glass transition zone. After Al removal, the quality of the dielectric mask was tested in Ag pure thermal diffusion and electrodiffusion processes in molten AgNO3.