Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Chemia Analityczna

1 2004

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: electrotopological index

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Electrotopological structural parameters for polychlorinated biphenyls

Krawczuk A., Voelkel A.

Chemia Analityczna

2004

Vol. 49, No. 2

159-166

Polychlorinated biphenyls (PCBs) have been characterized with new topological indices: E-state parameter and electrotopological index TIE. Their discriminating power and degeneracy level has been presented and discussed. It has been shown that electrotopological index TIE may be utilised as a structural parameter in the structure-retention relationships due to its high discrimination power and low degeneracy.

Do charakterystyki polichlorowanych bifenyli wykorzystano dwa nowe indeksy topologiczne: parametr E-state oraz indeks elektrotopologiczny TI(E);. Dokonano oceny ich zdolności dyskryminacyjnej oraz stopnia degeneracji. Wykazano, że ze względu na wysoką zdolność dyskryminacji oraz niski stopień zdegenerowania indeks elektrotopologiczny TI1- może być wykorzystywany w zależnościach struktura-retencja.