Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

2 Zeszyty Naukowe. Elektryka / Politechnika Łódzka

2 2005

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: electronic equipment protection

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Wymagania EMC dotyczące odporności udarowej urządzeń a ryzyko ich uszkodzenia wskutek wyładowań piorunowych

Łoboda M., Flisowski Z.

Zeszyty Naukowe. Elektryka / Politechnika Łódzka

2005

z. 103

53-60

Odporność urządzeń elektrycznych i elektronicznych na udary piorunowe oraz na oddziaływanie piorunowych impulsów elektromagnetycznych LEMP (Lightning Electromagnetic inpulse), generowanych przez wyładowania doziemne, jest istotnym zagadnieniem zarówno w EMC, jak i w ochronie odgromowej obiektów budowlanych i ich wyposażenia. Poziomy odporności urządzeń na udary piorunowe i na impulsowe pole magnetyczne, odwzorowujące narażenia wyładowań piorunowych, są uzależnione m.in. od klasyfikacji środowiska elektromagnetycznego (miejsca użytkowania urządzeń i instalacji). Środowisko to jest definiowane m.in. ze względu na bliskość występowania narażeń piorunowych z uwzględnieniem parametrów ich prądu doziemnego, wpływających na ryzyko uszkodzenia urządzeń. W referacie omówiono podstawowe wymagania dotyczące badań odporności urządzeń na symulowane narażenia piorunowe zawarte w normach PN-IEC oraz ich korelację (a także rozbieżności) z wymaganiami dotyczącymi ochrony odgromowej obiektów wyposażonych w urządzenia elektroniczne.

In the paper are discussed required levels of immunity tests of equipment and their correlation with standards related to protection of equipment against LEMP. Also the assessment of lightning risk of damages of electrical and electronic equipment have been analysed as the case study.

Wyładowania elektrostatyczne ESD - zagadnienia techniczne i normalizacyjne

Kołodziejski J. F.

Zeszyty Naukowe. Elektryka / Politechnika Łódzka

2005

z. 103

17--28

W pracy omówiono skutki występowania statycznych ładunków elektrycznych i wyładowań elektrostatycznych ESD w odniesieniu do elementów i urządzeń elektronicznych. Przedstawiono metody ochrony od elektryczności statycznej i wyładowań ESD, a także stosowane zabezpieczenia wewnątrzukładowe i programowe. Znaczną część pracy poświęcono działaniom normalizacyjnym podejmowanym w Międzynarodowej Komisji Elektrotechnicznej 1EC, a obejmującym opracowanie modeli i metod pomiarowych związanych z wyładowaniami elektrostatycznymi.

The effects of static electrical charges and electrostatic discharges in respect to electronic elements and equipment are reviewed in the work. General prevention methods are presented. Applied on-chip and program protection means are also mentioned. Significant part of the work is devoted to standard activities inside IEC, covering elaboration of some ESD models and measurement methods.