PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Powiadomienia systemowe
  • Sesja wygasła!
  • Sesja wygasła!
  • Sesja wygasła!
  • Sesja wygasła!
  • Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 5

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  electron probe microanalysis
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available Wpływ Ceram Bondu na charakter połączenia metal-ceramika
Hajduga M., Zdziech T.
Aktualne Problemy Biomechaniki
|
2010
|
z. 4
71--78
PL
Celem pracy jest analiza wpływu materiału ceramicznego Ceram Bond, na charakter połączenia pomiędzy materiałem ceramicznym, a podbudową metaliczną niklowo-chromową z pozostawioną warstwą tlenkową, w porównaniu ze strukturą na której nie naniesiono wyżej wymienionej warstwy ceramicznej. Rejestracje prowadzono na granicy warstw metal-ceramika. Analizę wykonano przy pomocy mikroanalizatora rentgenowskiego JCXA 733 firmy Jeol. [1].
EN
The aim of the study is the analysis of the influence of the ceramic material (Cream Bond) on the character of the joint between the ceramic material and the metallic foundation (a nickel-chrome structure with an oxide later left), compared to the joint without the ceramic material in question. The observation was made within the contact area of the metallic and ceramic layers. The analysis was conducted by means of an electron microprobe analyzer JCXA 733 Jeol.
2
Content available Charakter połączenia faz metal - ceramika w obecności opakera
Hajduga M., Danel D.
Aktualne Problemy Biomechaniki
|
2010
|
z. 4
59--64
PL
W pracy przedstawiono wyniki analizy charakteru połączenia metalu z ceramiką w zależności od obecności warstwy opakerowej. W celu określenia charakteru połączenia przeprowadzono badania, mikroskopowe oraz mikroanalizą rentgenowską. Wyniki badań ukazały wewnętrzną strukturę badanego materiału, oraz zmianę stężeń pierwiastków pomiędzy poszczególnymi warstwami próbek. Przeprowadzone badania pozwoliły na wysuniecie wniosku, iż warstwa opakera nie tylko maskuje kolor struktury metalicznej, ale także przyczynia się do zwiększenia trwałości połączenia między metalem i ceramiką.
EN
The research results presented in this thesis are based on analysis influencing the bond between the opaqued metallic substructure with ceramic. In order to determine the factors which influence this bond it was necessary to carry out tests consisting of microscopic and x-ray microanalysis. The test results have made it possible to identify the inner structure of the material being examined. In conclusion the test results showed that the opaque coating does not only serve aesthetic purposes by masking the dark metallic substructure but more importantly increases the durability of the metal ceramic bond.
3
Content available remote Determination of chemical composition of (Pb,La)(Zr,Ti)O3 type ferroelectric ceramics by WD-XRF and ED-EPMA
Sitko R., Zawisza B., Płońska M., Malicka E.
Chemia Analityczna
|
2008
|
Vol. 53, No. 1
123-131
EN
The stoichiometry determination of lanthanum doped lead zirconate titanate (PLZT) by the wavelength-dispersive X-ray fluorescence spectrometry (WD-XRF) and energy-dis-persive-electron-probe microanalysis (ED-EPMA) is presented. For WD-XRF measurements the analyzed materia! was mixed with boric acid in the ratio 1:20 and pressed into pellets. The multielement standard samples were prepared by mixing appropriate amounts of analyte oxides (PbO, TiO2, ZrO2 and La2O3,) with boric acid. The obtained results were compared with the analysis of PLZT performed by ED-EPMA. The matrix effects were corrected using threoretical influence algorithm for intermediate-thickness samples (WD-XRF) and ZAP method (ED-EPMA).
PL
Przedstawiono metodę oznaczania stechiometrii tytanianu i cyrkonianu ołowiu domieszkowanego lantanem (PLZT) z wykorzystaniem rentgenowskiej spektrometrii fluorescencyjnej z dyspersją długości fali (WD-XRF) i mikroanal izy rentgenowskiej zdyspersjąenergii (ED-EPMA). Do pomiarów WD-XRF analizowany materiał był mieszany z kwasem borowym w stosunku l :20 i prasowany w pastylkę. Wielopierwiastkowe próbki wzorcowe były przygotowane przez zmieszanie odpowiednich ilości tlenków analitów (PbO, TiO2ZrO2 i La2O3) z kwasem borowym. Uzyskane rezultaty porównano z wynikami ED-EPMA. Efekty matrycy korygowano za pomocą algorytmu teoretycznych współczynników wpływów dla próbek o grubości pośredniej (WD-XRF) oraz metodą ZAF (ED-EPMA).
4
Content available remote Electron probe microanalysis in the study of diffusion in solids
Sikorski K.
Archives of Metallurgy and Materials
|
2004
|
Vol. 49, iss. 2
369-383
EN
The paper illustrates the necessity of applying special corrections to concentration profiles determined on the cross-sections of the samples using an electron probe x-ray microanalyser when the thickness of diffusion zones are below tens of microns. The correction takes into account the influence of the width of the x-ray generation volume on the shape and width of the determined x-ray intensity profiles and consequently, on the value of diffusion coefficients calculated on their basis. The error increases with decreasing thickness of the analysed diffusion zones and inecreasing width of the x-ray generation volume. A method correcting the above effect is described and the examples of its application are given. Methods of determining the concentration profiles formed as a result of diffusion processes in thin (below 1 micron) coatings are also described. They utilize the in-depth x-ray distribution function phi(z) and need measurements of the x-ray intensities on the surface of the layers at various accelerating voltages. It was shown that the methods describe adequately the concentration profiles in the cases of multiphase diffusion when the profiles are of step-like shape. If the concentrations of elements in the diffusion zone change continuously, the profiles are described approximately as if they referred to 3-4 sub-layers of different but constant concentrations.
PL
W pracy wykazano, że profile zmian stężeń pierwiastków w strefach dyfuzyjnych o grubości mniejszej od kilkudziesieciu mikrometrów, wyznaczone metodą mikroanalizy rentgenowskiej na przekrojach poprzecznych złącz, są obarczone błędem którego wielkość rośnie, gdy grubość strefy dyfuzyjnej maleje, a szerokość obszaru emisji promieniowania X wzrasta. W pracy opisano metody korekcji profili zmian stężeń pierwiastków w strefach dyfuzyjnych. Wykazano, że wartości współczynników dyfuzji wyznaczone na podstawie nie skorygowanych profili są zawyżone i w przypadku stref o grubości kilku mikrometrów mogą osiągać wartości kilkakrotnie większe od rzeczywistych. Korekcja profili zmian steżeń może być pominieta jedynie w przypadku stref dyfuzyjnych o grubości wiekszej niż 100 mikrometrów. W pracy opisano również metody określania profili zmian stężeń pierwiastków w cienkich warstwach o grubości poniżej 1 mikrometra.
5
Mikrowiązkowe metody badań materiałów.
Żelechower M.
Inżynieria Materiałowa
|
2001
|
R. XXII, nr 6
1033-1035
PL
Metody badawcze materiałów wykorzystujące wiązki korpuskularne lub wiązki promieniowania elektromagnetycznego o mikronowych i submikronowych średnicach znajdują coraz szersze zastosowanie w obliczu wymogów stawianych przez współczesne technologie. W artykule omówiono trendy w rozwoju aparatury badawczej wykorzystującej mikrowiązki, a służącej do badania struktur o wymiarach nanometrycznych. Podano skrótowe charakterystyki takich metod, jak transmisyjna mikroskopia elektronowa (TEM), analityczna mikroskopia elektronowa (AEM), skaningowa mikroskopia elektronowa (SEM), mikroanaliza rentgenowska (EPMA), spektroskopia masowa jonów wtórnych wzbudzanych zogniskowaną wiązką jonową (FIB-SIMS). Intencją było stworzenie krótkiego przewodnika ułatwiającego wybór odpowiedniej metody badawczej w zależności od cech studiowanego materiału.
EN
Recently in materials studies the methods employing microbeams (both particle and radiation beams) become widely applied with respect to the high requirements expected by modern nanotechnology. Current trends in the development of microbeam instrumentation for nanostructures studies were presented in the paper. Several methods have been briefly reviewed: transmission electron microscopy (TEM), analytical electron microscopy (AEM), scanning electron microscopy (SEM), electron probe microanalysis (EPMA), focused ion beam secondary ion mass spectroscopy (FIB-SIMS). The paper in the author's intention should be understood as a short guide which facilitates selection of an appropriate research method suited to features of studied material.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.