Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  electron back scattered diffraction method
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote Dynamic recrystallization in commercially pure titanium
EN
Purpose: A study was conducted to investigate the dynamic recrystallization of commercially pure Titanium alloy during high temperature deformation in order to understand it further and enable expansion of its usage. Design/methodology/approach: Uniaxial tensile tests were carried out at 600, 750 and 800°C with different initial strain rates. Microstructure evolution during high temperature tensile testing was studied by using optical microscope and Electron Back Scattered Diffraction. Findings: It is found that this titanium alloys do not show good superplasticity at 600-800°C due to the rapid grain growth. Studies also show that the dynamic recrystallization took place at high temperatures. This process not only decreases the average grain size of the alloy but also increase the misorientation angle of the grain boundary. Practical implications: The investigations of dynamic recrystallization of commercially pure titanium alloy as well as related phenomena are important for achieving desired mechanical behavior of the material. Originality/value: The dynamic recrystallization phenomenon of commercially pure titanium alloy as well as related mechanism is investigated.
PL
Identyfikacja faz metodą dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych ma potencjalnie szerokie zastosowanie w inżynierii materiałowej. Mimo, że jest to metoda stosunkowo prosta to jednak otrzymywane linie dyfrakcyjne nie zawsze są prawidłowo detektowane przez komputer. Przyczyny tego tkwią najczęściej w preparatyce próbek. W pracy przedstawiono wpływ sposobu w jaki zostały przygotowane zgłady metalograficzne wybranych materiałów na jakość otrzymywanych obrazów dyfrakcyjnych, a tym samym na możliwości identyfikacji obserwowanych faz. Przeprowadzone badania wykazały, że sposób przygotowania zgładów metalograficznych w bardzo dużym stopniu wpływa na identyfikację faz. Przy czym trudno jest ustalić uniwersalną preparatykę dla wszystkich materiałów.
EN
Electron back scattered diffraction method of phases identification potentially has broad application in the materials science. Despite the fact that this method is relatively simple, obtained diffraction lines are not always correctly identified by a computer. Purposes of this are - in most cases - because of the samples preparation. The influence of the metallographic specimens preparation method of chosen materials on the quality of EBSP and on the possibility of phases identification has been presented in this work. During the research it was shown that the method of metallographic specimens preparation influences significantly the phases identification. In the mean time is very difficult to state the universal method of preparation for all the materials.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.