W artykule przedstawiono praktyczne rozwiązanie i wyniki badań systemu akwizycji danych i metody metrologicznej weryfikacji dokładności rezystancyjnego systemu tomograficznego. Metoda weryfikacji oparta jest na zastosowaniu wzorca (symulującego rozkład rezystywności) złożonego z sieci elementów dyskretnych - rezystorów i kondensatorów. Proponowana metoda pozwala na weryfikację dokładności, selektywną lub sumaryczną, elementów systemu tomograficznego.
EN
In this paper the accuracy verification technique and the data acquisition system are proposed and investigated. The verification method is based on the reference model of conductivity distribution. The reference model is constructed as a network of the discrete resistors and capacitors. Proposed technique permits to verify (jointly or separately) the data acquisition system, reconstruction algorithm and approximation effects. The reference network parameters and the stages of the verification are described.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.